[实用新型]基于差分位置检测的光学伺服系统有效

专利信息
申请号: 201721220619.9 申请日: 2017-09-22
公开(公告)号: CN207249247U 公开(公告)日: 2018-04-17
发明(设计)人: 付淑雯;王霞兵;田江有 申请(专利权)人: 上海眸特实业有限公司
主分类号: G02B27/00 分类号: G02B27/00;G01D11/00
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 201100 上海市宝*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 基于 位置 检测 光学 伺服系统
【说明书】:

技术领域

本实用新型涉及光学处理设备技术领域,具体涉及一种基于差分位置检测的光学伺服系统。

背景技术

在现有的光学设备中,大都需要实验人员或者人工进行调整,而且设备的图像对比和处理仅针对相机拍摄的图像进行处理,这种形式的光学系统处理的图像精度差,而且测量过程也无法实现自动和智能化的调整,自适应能力差。

为了解决上述问题,本案发明人结合自身经验研发了一种基于差分位置检测的光学伺服系统。

发明内容

本实用新型设计目的在于通过使用光栅和差分运算器,提高光能的利用率和差分运算精确度,同时结合使用波前矫正器,使得光线可以及时的得到调整,保证测量的准确性,通过主处理器对信号的处理和对波前矫正器的伺服控制,使得整个设备可以实现自动化和智能化的调整。

本实用新型所解决的技术问题采用以下技术方案来实现:

基于差分位置检测的光学伺服系统,包括一设有相机和差分运算器且用以检测焦点位置变化的差分位置检测组件、用以对光进行校正的波前矫正器、用以处理所述差分位置检测组件的传输信息和控制所述波前矫正器且同时实现对光学系统进行伺服控制的主处理器;

所述差分位置检测组件包括用以采集图像信号的所述相机、用以调整光路的透镜和光栅、用以采集所述光栅信号的图像采集卡和用以对所述图像采集卡采集的信号进行处理的所述差分运算器,所述相机将采集的图像直接传输至所述主处理器,所述图像采集卡对经过所述透镜和光栅的光信号进行多幅图像采集并将所采集的图像输入至所述差分运算器,所述差分运算器对输入的信号进行处理并将处理结果输送至所述主处理器,所述主处理器对所述差分运算器输入的信号进行处理并将处理后的伺服控制信号发送至所述波前矫正器。

优选的,所述相机为高分辨率的CCD相机。

优选的,所述透镜之前设有一用以消除色差的滤波片。

本实用新型具有的有益效果是:通过使用光栅和差分运算器,提高了光能的利用率和差分运算精确度,同时结合使用波前矫正器,使得光线可以及时的得到调整,保证了测量的准确性,通过主处理器对信号的处理和对波前矫正器的伺服控制,使得整个设备可以实现自动化和智能化的调整。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型实施方案或技术特征,下面将对实施方案或技术特征中所需要使用的附图作简单地介绍。

图1为本实用新型:基于差分位置检测的光学伺服系统布局示意图。

具体实施方式

为了使本实用新型实现的技术手段、创作特征、达成目的与功效易于明白了解,下面结合实施实例,进一步阐述本实用新型。

参见图1所示的基于差分位置检测的光学伺服系统,包括一设有相机20和差分运算器24且用以检测焦点位置变化的差分位置检测组件2、用以对光进行校正的波前矫正器1、用以处理所述差分位置检测组件2的传输信息和控制所述波前矫正器1且同时实现对光学系统进行伺服控制的主处理器3;

所述差分位置检测组件2包括用以采集图像信号的所述相机20、用以调整光路的透镜21和光栅22、用以采集所述光栅22信号的图像采集卡23和用以对所述图像采集卡23采集的信号进行处理的所述差分运算器24,所述相机20将采集的图像直接传输至所述主处理器3,所述图像采集卡23对经过所述透镜21和光栅22的光信号进行多幅图像采集并将所采集的图像输入至所述差分运算器24,所述差分运算器24对输入的信号进行处理并将处理结果输送至所述主处理器3,所述主处理器3对所述差分运算器24输入的信号进行处理并将处理后的伺服控制信号发送至所述波前矫正器1。

所述相机20为高分辨率的CCD相机。

所述透镜21之前设有一用以消除色差的滤波片4。

本实用新型提供的基于差分位置检测的光学伺服系统通过使用光栅22和差分运算器24,提高了光能的利用率和差分运算精确度,同时结合使用波前矫正器1,使得光线可以及时的得到调整,保证了测量的准确性,通过主处理器3对信号的处理和对波前矫正器1的伺服控制,使得整个设备可以实现自动化和智能化的调整。

以上显示和描述了本实用新型的基本原理和主要特征和本实用新型的优点。本行业的技术人员应该了解,本实用新型不受上述实施例的限制,上述实施例和说明书中描述的只是说明本实用新型的原理,在不脱离本实用新型精神和范围的前提下,本实用新型还会有各种变化和改进,这些变化和改进都落入要求保护的本实用新型范围内。本实用新型要求保护范围由所附的权利要求书及其等效物界定。

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