[实用新型]一种LED芯片测试机构

说明书

本实用新型公开了一种LED芯片测试机构，包括支撑板、转盘、电源、驱动装置及2个探针，所述的支撑板上设有贯穿其上、下表面的通孔，2个探针分别电连接电源的正、负端并分别设置在通孔内，驱动装置分别连接探针并带动探针在支撑板的上、下表面做升降运动；转盘上设置有用于容置LED灯珠的容置孔；所述转盘的底部设置有连接座，连接座上穿设有转轴，转轴固定连接有摆杆，并套设有扭簧；所述支撑板上安装有滑座，所述滑座水平穿设有刮板，所述刮板的一端朝向摆杆，另一端朝向探针；所述滑座内设置有给予刮板朝向摆杆一个推力的驱动件；当探针下降到极限位置时，所述探针的上端面与刮板的边缘齐平。本实用新型具有测试准确的特点。

技术领域

本实用新型涉及LED制造技术领域，特别地，涉及一种LED芯片测试机构。

背景技术

LED(LightEmittingDiode)，发光二极管，是一种能够将电能转化为可见光的固态的半导体器件，它可以直接把电转化为光。LED灯的出现，相对于普通灯(白炽灯等)具有节能、寿命长、适用性好、回应时间短、环保等优点。

LED进行封装成LED灯珠后，为确定光效，通常会在分光机上对其进行光效测试，并根据光效对LED灯珠进行筛分。现有的测试设备，大多采用点测的方式，即采用正、负两根探针去分别与LED灯珠的正、负极接触，以此对LED灯珠进行通电。然而，在测试过程中发现，LED灯珠的正、负极上会有一些残留的封闭胶水粘到探针上，对探针的接触性造成影响。

实用新型内容

有鉴于此，本实用新型目的是提供一种LED芯片测试机构，具有测试准确的特点。

为了解决上述技术问题，本实用新型的技术方案是：

一种LED芯片测试机构，包括支撑板、转盘、电源、驱动装置及2个探针，所述的支撑板上设有贯穿其上、下表面的通孔，2个探针分别电连接电源的正、负端并分别设置在通孔内，驱动装置分别连接探针并带动探针在支撑板的上、下表面做升降运动；转盘上设置有用于容置LED灯珠的容置孔；所述转盘的底部设置有连接座，连接座上穿设有转轴，转轴固定连接有摆杆，并套设有扭簧；所述支撑板上安装有滑座，所述滑座水平穿设有刮板，所述刮板的一端朝向摆杆，另一端朝向探针；所述滑座内设置有给予刮板朝向摆杆一个推力的驱动件；当探针下降到极限位置时，所述探针的上端面与刮板的边缘齐平。

优选地，所述滑座朝向摆杆的一侧呈倾斜设置，所述刮板朝向摆杆的一侧同样设置有斜面。

优选地，所述滑座内设置有供刮板穿过的通槽，所述通槽的侧壁上设置有第一限位座，所述刮板的侧壁上设置有第二限位座；所述驱动件为弹簧，所述弹簧的两端分别与第一限位座、第二限位座抵触。

优选地，所述通孔的开口处设置有用于防止第二限位座脱离通孔的锁环，所述锁环与通孔螺纹连接。

优选地，2个探针通过连接板固定在一起。

本实用新型技术效果主要体现在以下方面：利用摆杆来推动刮板，进而使刮板与探针的顶端形成相互的剪切运动，以将探针顶端的封闭脱水去除。

附图说明

图1为实施例中LED芯片测试机构的结构图；

图2为实施例中滑座的内部结构图。

附图标记：1、支撑板；11、通孔；2、转盘；21、容置孔；3、探针； 4、连接板；51、连接座；52、转轴；53、摆杆；61、滑座；611、通槽；612、第一限位座；62、刮板；621、第二限位座；622、斜面；63、弹簧；7、锁环；8、LED灯珠。

具体实施方式

以下结合附图，对本实用新型的具体实施方式作进一步详述，以使本实用新型技术方案更易于理解和掌握。