[实用新型]一种深紫外光倍频测试装置

说明书

本实用新型公开了一种深紫外光倍频测试装置，属于光学非线性频率变化技术领域，该测试装置包括：光源(1)设置在密闭暗室(2)外部的入口处，其发出紫外光进入到密闭暗室(2)内形成光路；密闭暗室(2)为真空或填充氮气的暗室；样品架(3)活动的设置在密闭暗室(2)内的光路上；样品库(4)设置在光路的一侧与样品架(3)对应的位置，容纳有一种或多种样品；样品控制杆(5)一端与样品架(3)连接，另一端伸出密闭暗室(2)，控制样品架(3)在样品库(4)与光路之间移动。本实用新型通过活动设置的样品架(3)和样品控制杆(5)实现了在密闭暗室(2)中置换样品无需开腔的目的，测量误差小，保证了测试结果的重复性和可比性。

技术领域

本实用新型涉及光学非线性频率变化技术领域，更具体涉及一种深紫外光倍频测试装置。

背景技术

光学非线性频率变换是一种扩展激光频率的技术手段，对激光技术的发展和拓宽激光的应用领域具有十分重要的意义，并将促进一些交叉学科和一些新领域的发展。

探索新的非线性光学材料过程中由于生长单晶比较困难，需要大量时间和资金投入。因此以某种方式能首先对晶体的非线性常数作一些评估是很重要的。发展粉末倍频法是行之有效的方法之一。

但是现有的倍频测试装置存在如下缺陷：

1、现有的测试装置无法实现基频光小于370nm波段的相关测试，主要原因在于波长小于370nm的基频光产生的倍频光波长在185nm以下，空气对其吸收较大，无法在空气环境下传播。

2、现有的测试装置中置换测试样品需要频繁开腔，操作繁琐，且造成测量误差较大。

3、现有的测试装置的通光入口无法去除杂散光，影响测量的准确性。

4、现有的测试装置衰减片设置单一，真空环境下倍频光的透过率无法调节，而且必须开腔才能更换衰减片。试验过程中，无法保证倍频光的光强恰好在光电倍增管的测量动态范围内，影响测量的准确性。

实用新型内容

(一)实用新型目的

本实用新型的目的是提供一种深紫外光倍频测试装置，通过密闭暗室解决了深紫外激光波段容易被空气吸收的问题，通过活动设置的样品架和样品控制杆解决了密闭暗室置换测试样品需要频繁开腔的问题，通过设置通光块和通光孔解决了通光入口无法去除杂散光的问题，通过衰减片组以及衰减控制杆解决了衰减片设置单一，倍频光的透过率不可调节以及更换衰减片需要开腔的问题。

(二)技术方案

为了解决上述技术问题，本实用新型提供了一种深紫外光倍频测试装置，包括:

光源，设置在密闭暗室外部的入口处，其发出紫外光进入到密闭暗室内形成光路，所述密闭暗室为真空或填充氮气的暗室；样品架，活动的设置在所述密闭暗室内的所述光路上；样品库，设置在所述光路的一侧与所述样品架对应的位置，容纳有一种或多种样品；样品控制杆，其一端与所述样品架连接，另一端伸出所述密闭暗室，设置为控制所述样品架在所述样品库与所述光路之间移动。

进一步，所述样品库形成为直线形，所述样品库连接到所述密闭暗室外的控制端，设置为在该控制端的控制下平行于所述光路移动。

进一步，所述样品库形成为直线形，所述样品控制杆伸出所述密闭暗室的一端与控制端连接，设置为在该控制端的控制下平行于所述光路移动。

进一步，所述样品库形成为圆盘形或圆柱形，所述样品库连接到所述密闭暗室外的控制端，设置为在该控制端的控制下旋转。

进一步，所述样品库形成为弧形，所述样品库连接到所述密闭暗室外的控制端，设置为在该控制端的控制下旋转。

进一步，所述样品库形成为弧形，所述样品控制杆伸出所述密闭暗室的一端与控制端连接，设置为在该控制端的控制下沿着所述样品库的弧形内径旋转。