[实用新型]一种集成电路测试设备接口板

说明书

本实用新型公开了一种集成电路测试设备接口板，包括PCB板和测试设备，PCB板顶部的两端位于第三钻孔之间分布有电源模块和电路模块，PCB板的上表面接触连接有测试子板，圆孔的上表面四周均匀环绕有扩展模块，第三钻孔内贯穿有与测试设备顶部啮合的螺栓，第一钻孔和第二钻孔内贯穿有与测试子板啮合的螺栓。本集成电路测试设备接口板，用这种方式可以大大降低测试成本，免去高额的定制化费用，并且在将来使用阶段，以应对不同芯片wafer测试，方便将测试子板与测试设备和PCB板进行安装和拆卸，该PCB板不仅适用现有93k测试设备，而且可以扩展满足不同芯片wafer测试，使用这种PCB板可以大大降低测试成本，免去定制化高额的开模费用。

技术领域

本实用新型涉及集成电路测试技术领域，具体为一种集成电路测试设备接口板。

背景技术

目前，集成电路的种类越来越多样化，集成度和产品性能每18个月增加一倍。而测试成本几乎占芯片成本的一半，因此未来集成电路测试面临的最大挑战是在保障测试性能的情况下如何降低测试成本。现阶段的测试设备接口板都采用客制化定制内容，通用性，扩展性和兼容性差。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种集成电路测试设备接口板，具有而且可以扩展满足不同芯片wafer测试，使用这种PCB板可以大大降低测试成本，免去定制化高额的开模费用的优点，解决了现有技术中的问题。

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种集成电路测试设备接口板，包括PCB板和测试设备，所述PCB板上开设有第一钻孔、第二钻孔和第三钻孔，PCB板顶部的两端位于第三钻孔之间分布有电源模块和电路模块，PCB板顶面中心位于第一钻孔之间开设有圆孔，PCB板的上表面接触连接有测试子板，所述圆孔的上表面四周均匀环绕有扩展模块，第一钻孔位于第二钻孔之间，第三钻孔内贯穿有与测试设备顶部啮合的螺栓，所述扩展模块与测试子板电性连接，第一钻孔和第二钻孔内贯穿有与测试子板啮合的螺栓。

优选的，所述电源模块相邻的间距为74mm，电源模块由16个电路信号和对应的地组成的构件。

优选的，所述PCB板上安装的电路模块数量为14个，电源模块数量为个，扩展模块分为4组，每组4个，位于每组扩展模块之间的两个扩展模块位置平行，位于每组两旁的扩展模块与中心的扩展模块夹角为45°。

优选的，所述扩展模块由153个电路信号和对应的地，6组电源和16个控制信号组成的构件。

优选的，所述电路模块由16个电路信号和对应的地组成的构件。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果如下：

本集成电路测试设备接口板，gerber工程文件可用于制造本PCB板，用这种方式可以大大降低测试成本，免去高额的定制化费用，并且在将来使用阶段，以应对不同芯片wafer测试，方便将测试子板与测试设备和PCB板进行安装和拆卸，该PCB板不仅适用现有93k测试设备，而且可以扩展满足不同芯片wafer测试，使用这种PCB板可以大大降低测试成本，免去定制化高额的开模费用。

附图说明

图1为本实用新型的整体爆炸图；

图2为本实用新型的整体俯视图；

图3为本实用新型的使用状态图。

图中：1PCB板、11第一钻孔、12第二钻孔、13第三钻孔、14圆孔、2 电源模块、3电路模块、4扩展模块、5测试设备、6测试子板。

具体实施方式