[实用新型]一种X荧光光谱仪探测器冷却装置有效

专利信息
申请号: 201721297263.9 申请日: 2017-10-10
公开(公告)号: CN207263671U 公开(公告)日: 2018-04-20
发明(设计)人: 张磊 申请(专利权)人: 天津市博智伟业科技股份有限公司
主分类号: G01N23/223 分类号: G01N23/223
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 300450 天津市滨*** 国省代码: 天津;12
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摘要:
搜索关键词: 一种 荧光 光谱仪 探测器 冷却 装置
【权利要求书】:

1.一种X荧光光谱仪探测器冷却装置,其特征在于:其结构包括:保护帽(1)、屏蔽管(2)、第一散热片(3)、螺纹座(4)、外部壳体(5)、第二散热片(6)、安装板(7)、活动叶片(8)、旋转柱(9)、固定架(10),所述保护帽(1)位于屏蔽管(2)的上表面并且与屏蔽管(2)活动连接,所述屏蔽管(2)位于外部壳体(5)的上表面并且与外部壳体(5)为一体化结构,所述第一散热片(3)固定安装在屏蔽管(2)的左右两侧面,所述第二散热片(6)位于外部壳体(5)的上表面并且与外部壳体(5)相配合,所述安装板(7)位于外部壳体(5)的右侧,所述固定架(10)位于安装板(7)前表面的上端并且与安装板(7)机械连接,所述旋转柱(9)位于固定架(10)的内部并且与固定架(10)相配合。

2.根据权利要求1所述的一种X荧光光谱仪探测器冷却装置,其特征在于:所述螺纹座(4)位于外部壳体(5)外侧表面的四个边角并且与外部壳体(5)为一体化结构。

3.根据权利要求1所述的一种X荧光光谱仪探测器冷却装置,其特征在于:所述第二散热片(6)位于外部壳体(5)的上表面并且与外部壳体(5)采用间隙配合。

4.根据权利要求1所述的一种X荧光光谱仪探测器冷却装置,其特征在于:所述活动叶片(8)位于旋转柱(9)的外侧表面并且与旋转柱(9)固定连接。

5.根据权利要求1所述的一种X荧光光谱仪探测器冷却装置,其特征在于:所述旋转柱(9)位于固定架(10)的内部并且与固定架(10)采用间隙配合。

6.根据权利要求1所述的一种X荧光光谱仪探测器冷却装置,其特征在于:所述屏蔽管(2)上设有安装孔。

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