[实用新型]一种用于测量重金属元素的光路结构

说明书

本实用新型公开了一种用于测量重金属元素的光路结构，其结构包括重金属探测器、测量工件置放槽、工件置放台、多孔变准直器、激发源、散热风扇保护外壳、扇叶、风扇转轴、支撑底板、固定螺栓安装孔、散热孔、装置主体支撑座、检修门，测量工件置放槽嵌套于工件置放台内部，重金属探测器通过螺栓固定于激发源上表面最左端，本光路采用样品台与多孔可变准直器为一体化设计，减少了X射线的行程，减少了X射线在空气的损耗，采用激发源发出X射线方向与探测器接受X荧光信号方向垂直的结构，同时探测器的探测窗与被测物的距离小于1mm，最大限度的获得信号强度，使得低于0.2mg/Kg的重金属元素的弱信号能被探测器接收到。

技术领域

本实用新型是一种用于测量重金属元素的光路结构，属于测量装置领域。

背景技术

常见的重金属元素有镉、汞、银、铜、钡、铅等，重金属元素的离子一般是有毒的，比如铜单质无毒，但是铜离子使蛋白质变性，有毒，铁除外，二价铁离子是组成人体血红蛋白的重要元素，此外，各个不同的离子有不同的颜色，在溶液中，铜离子一般为蓝色，亚铁离子一般为浅绿色,铁离子一般为黄色，在焰色反应中，铜为绿色，钡为黄绿色。

现有技术公开了申请号为：201220646050.3的一种用于测量气体浓度和重金属元素的装置，包括采样模块，与采样模块相连的检测模块，采样模块和检测模块分别连接滤膜更换装置Ⅰ和数据处理模块，数据处理模块连接显示器，该装置是一种在耐高温、防腐蚀性气体以及高粉尘浓度等恶劣环境下实现样气检测的装置，其可以通过取样装置或抽气泵进行采样，并将样气送入大气切割装置，进入富集系统后在X射线荧光的激发下，对重金属元素的含量进行检测，但现有技术结构简单，传统的X荧光光谱仪一般多只采用，探测器与激发源都与水平面成45度角的结构，这种结构无法距离被测物很近，一般在10mm左右，因为X荧光信号强度与距离的平方成反比，所以无法获得很大的信号强度，同时安装在激发源上的准直器与被测物也有一段距离，也造成的X射线强度的损失，这样的结构是无法检测低于0.2mg/Kg的重金属元素的。

实用新型内容

针对现有技术存在的不足，本实用新型目的是提供一种用于测量重金属元素的光路结构，以解决现有技术结构简单，传统的X荧光光谱仪一般多只采用，探测器与激发源都与水平面成45度角的结构，这种结构无法距离被测物很近，一般在10mm左右，因为X荧光信号强度与距离的平方成反比，所以无法获得很大的信号强度，同时安装在激发源上的准直器与被测物也有一段距离，也造成的X射线强度的损失，这样的结构是无法检测低于0.2mg/Kg的重金属元素的的问题。

为了实现上述目的，本实用新型是通过如下的技术方案来实现：一种用于测量重金属元素的光路结构，其结构包括重金属探测器、测量工件置放槽、工件置放台、多孔变准直器、激发源、散热风扇保护外壳、扇叶、风扇转轴、支撑底板、固定螺栓安装孔、散热孔、装置主体支撑座、检修门，所述支撑底板焊接于装置主体支撑座底部，所述固定螺栓安装孔贯穿连接于支撑底板左右两侧边沿，所述检修门通过导轨安装于装置主体支撑座正面右下角，所述散热孔等距均匀分布于装置主体支撑座右侧表面左端，所述散热风扇保护外壳通过螺栓固定于装置主体支撑座右侧表面，所述风扇转轴通过机械连接于散热风扇保护外壳中间，所述扇叶等均匀分布于风扇转轴侧面，所述激发源安装于装置主体支撑座上方，所述多孔变准直器通过螺栓固定于激发源上表面中间，所述工件置放台安装于多孔变准直器上方，所述测量工件置放槽嵌套于工件置放台内部，所述重金属探测器通过螺栓固定于激发源上表面最左端。

进一步地，所述激发源与装置主体支撑座相互平行。

进一步地，所述工件置放台与多孔变准直器相互垂直。

进一步地，所述固定螺栓安装孔设有个且位于同一水平面相互平行。

进一步地，所述风扇转轴与装置主体支撑座相互垂直。

进一步地，所述重金属探测器与激发源相互品只能够。

进一步地，所述工件置放台与多孔变准直器为一体化结构。