[实用新型]一种自动化电子元器件测试机构

权利要求书

1.一种自动化电子元器件测试机构，包括入料轨道、移料装置、测试片和底座，其特征在于，所述入料轨道通过固定座与所述底座连接，所述移料装置套设于所述入料轨道外侧并通过气缸驱动，所述测试片安装于所述入料轨道的末端。

2. 根据权利要求1 所述的一种自动化电子元器件测试机构，其特征在于，所述移料装置包括相互对称的第一移料装置和第二移料装置，所述第一移料装置和所述第二移料装置通过所述入料轨道下方的移料装置固定座分别固定于所述入料轨道的两侧，所述移料装置固定座通过第一气缸与所述底座连接；在所述第一移料装置上设置有与所述入料轨道贴合的第一移料轨道，在所述第二移料装置上设置有与所述入料轨道贴合的第二移料轨道，所述第一移料轨道通过第一盖板与所述第一移料装置固定，所述第二移料轨道通过第二盖板与所述第二移料装置固定；所述第一移料轨道与所述第二移料轨道的两对应边相互接触。

3.根据权利要求2所述的一种自动化电子元器件测试机构，其特征在于，在所述第一移料装置上设置有第二气缸，所述第二气缸用于控制所述第一移料轨道前后移动；所述第一移料轨道和所述第二移料轨道上还设置有相互匹配的拨爪料槽，所述拨爪料槽用于夹持待检测材料。

4.根据权利要求1所述的一种自动化电子元器件测试机构，其特征在于，在所述入料轨道的入口设置有下料跳盖，用于对进入轨道的待检测材料进行位置校正。

5.根据权利要求4所述的一种自动化电子元器件测试机构，其特征在于，在所述下料跳盖的末端设置有检知器，所述检知器用于感知进入入料轨道的待检测材料。

6.根据权利要求2所述的一种自动化电子元器件测试机构，其特征在于，还包括挡料顶针，所述挡料顶针设置于所述第一移料装置上，用于对进入所述入料轨道的待检测材料进行阻挡。

7.根据权利要求2所述的一种自动化电子元器件测试机构，其特征在于，还包括下料顶针，所述下料顶针设置于所述第二移料装置上，用于对进入所述入料轨道的待检测材料进行固定。

8.根据权利要求2所述的一种自动化电子元器件测试机构，其特征在于，还包括近接开关，所述近接开关设置于所述第二移料装置上。

9.根据权利要求1所述的一种自动化电子元器件测试机构，其特征在于，所述测试片通过滑轨装置固定于所述入料轨道的末端，用于对待检测材料进行检测，所述滑轨装置通过第三气缸驱动。