[实用新型]薄膜电容检测系统

说明书

技术领域

本实用新型涉及电容技术领域，尤其是指薄膜电容检测系统。

背景技术

现有的薄膜电容在生产时，采用人工一个个检测，其劳动强度大，效率低。

发明内容

本实用新型的目的在于克服现有技术的不足，提供一种结构合理、检测效果好、速度快的薄膜电容检测系统。

为实现上述目的，本实用新型所提供的技术方案为：薄膜电容检测系统，它包括有检测台，检测台台面上设有下凹的输出槽，输出槽输入端两侧的台面上设有导向板，输出槽输出端设有上下贯穿的检测口，检测口底部一端设有检测器，检测器位于输出槽底部，检测口底部另一端设有旋转轴，旋转轴通过相应的电机带动旋转，旋转轴长度方向与输出槽的宽度方向一致，旋转轴两端设有连杆，连杆一端与旋转轴连接，连杆另一端连接的拨杆，位于旋转轴一侧的检测器上设有极片槽；检测口顶部一侧的检测台台面上设有感应器。

所述的检测台台面上设有固定座，固定座顶部设有立轴，立轴上活动套装有滑块，套装后的滑块通过调节螺栓锁紧，滑块上安装有感应器。

所述的拨杆的长度大于检测口的宽度。

所述的导向板外侧设有调节螺栓，并通过调节螺栓活动安装在检测台台面的固定块上，安装后的两块导向板之间形成限位通道，限位通道入口处的导向板端部向外折弯形成喇叭状的进入口。

本实用新型在采用上述方案后，未描述的结构均可采用市面常规方式，检测时，薄膜电容通过振料器振动，极片向前依次排列送入输出槽，行至感应器位置时，电机带动旋转轴旋转，通过拨杆接触极片并使电容竖起，极片即进入极片槽，通过检测器进行检测即可，合格品及不合格品则通过外部机械手抓取分造，采用本方案后的结构合理、检测效果好、速度快。

附图说明

图1为本实用新型的整体结构示意图。

图2为本实用新型的旋转轴结构示意图。

图3为本实用新型的拨杆结构示意图。

具体实施方式

下面结合所有附图对本实用新型作进一步说明，本实用新型的较佳实施例为：参见附图1至附图3，本实施例所述的薄膜电容检测系统包括有检测台1，检测台1台面上设有下凹的输出槽2，输出槽2输入端两侧的台面上设有导向板3，导向板3外侧设有调节螺栓，并通过调节螺栓活动安装在检测台1台面的固定块上，安装后的两块导向板3之间形成限位通道，限位通道入口处的导向板3端部向外折弯形成喇叭状的进入口，输出槽2输出端设有上下贯穿的检测口，检测口底部一端设有检测器4，检测器4位于输出槽2底部，检测口底部另一端设有旋转轴5，旋转轴5通过相应的电机带动旋转，旋转轴5长度方向与输出槽2的宽度方向一致，旋转轴5两端设有连杆6，连杆6一端与旋转轴5连接，连杆6另一端连接的拨杆7，拨杆7的长度大于检测口的宽度，位于旋转轴5一侧的检测器4上设有极片槽8；检测台1台面上设有固定座10，固定座10顶部设有立轴11，立轴11上活动套装有滑块12，套装后的滑块12通过调节螺栓锁紧，滑块12上安装有感应器9，感应器9位于检测口顶部一侧的检测台1台面上。本实施例未描述的结构均可采用市面常规方式，检测时，薄膜电容通过振料器振动，极片向前依次排列送入输出槽，行至感应器位置时，电机带动旋转轴旋转，通过拨杆接触极片并使电容竖起，极片即进入极片槽，通过检测器进行检测即可，合格品及不合格品则通过外部机械手抓取分造，采用本实施例后的结构合理、检测效果好、速度快。

以上所述之实施例只为本实用新型之较佳实施例，并非以此限制本实用新型的实施范围，故凡依本实用新型之形状、原理所作的变化，均应涵盖在本实用新型的保护范围内。