[实用新型]一种密封圈老化试验装置

说明书

技术领域

本实用新型涉及密封圈试验技术领域，尤其涉及一种密封圈老化试验装置。

背景技术

在高压电输送技术中，常采用气体绝缘封闭组合电器(即GIS， Gas Insulated Switchgear)中的六氟化硫(即SF₆)作为绝缘和灭弧介质，将高压电器与外界隔绝。气体绝缘封闭组合电器中充有一定压力的六氟化硫，通过法兰盘夹紧，并在法兰盘之间设置密封圈结构将其密封。因密封圈在长时间使用过程中，会因老化而密封失效，导致六氟化硫泄漏的问题。

现有技术中测量密封圈老化的试验装置包括两个法兰盘，在其中一个法兰盘上开设安装槽，将密封圈装在安装槽内，再将两个法兰盘夹紧，最后将其放入烘箱内，间隔一段时间将其取出测量密封圈的性能变化，最后通过阿累尼乌斯图方法分析测量结果，从而获得密封圈的使用寿命。

因上述测量过程中，密封圈的测量装置均处于常压状态下，与气体绝缘全封闭组合电器中密封圈的使用环境不同。因此，无法准确测量出应用于气体绝缘封闭组合电器中密封圈的使用寿命。

实用新型内容

本实用新型的实施例提供一种密封圈老化试验装置，可解决现有技术中无法准确测量出密封圈在气体压力下的使用寿命的问题。

为达到上述目的，本实用新型的实施例采用如下技术方案：

一种密封圈老化试验装置，包括至少一个法兰盘，所述法兰盘的上表面和/或下表面沿周向设有用于装设密封圈的安装槽，所述法兰盘的上方和下方分别连接有法兰盖，以在所述法兰盘内形成封闭的空腔，所述法兰盖上设有与所述空腔连通的充气孔，所述充气孔连接有充气装置。

进一步地，所述法兰盘为多个，多个所述法兰盘包括多个由位置相邻的第一法兰盘和第二法兰盘组成的法兰盘组件，所述第一法兰盘和所述第二法兰盘可拆卸连接。

进一步地，所述法兰盘的数量为N个，且N为偶数，所述第一法兰盘和所述第二法兰盘组成的法兰盘组件的数量均为N/2个。

进一步地，所述第一法兰盘和所述第二法兰盘通过沉头螺钉连接。

进一步地，所述第一法兰盘上用于与所述沉头螺钉的头部和中部配合的阶梯孔有多个，多个所述阶梯孔沿所述第一法兰盘的周向均匀间隔设置；所述第二法兰盘上用于与所述沉头螺钉的尾部配合的盲孔有多个，所述盲孔与所述阶梯孔一一对应设置。

进一步地，还包括螺栓，两个所述法兰盖上分别开设有位置相对的第一通孔，所述法兰盘上开设有与所述第一通孔相对的第二通孔，所述螺栓的螺杆位于所述第一通孔和所述第二通孔内、且与所述第一通孔、所述第二通孔螺纹连接。

进一步地，所述充气孔还连接有气压测定装置。

进一步地，所述法兰盖上靠近所述法兰盘的表面沿周向设有用于装设密封圈的安装槽。

进一步地，所述安装槽的截面为方形。

进一步地，所述充气孔处设有密封盖。

进一步地，所述充气孔处设有排气阀。

本实用新型实施例中密封圈老化试验装置，由于通过法兰盖将一个法兰盘或多个叠置的法兰盘的上下开口密封，从而在法兰盘内形成封闭的空腔，再采用充气装置经充气孔将气体充入空腔内，使得在测量过程中法兰盘之间或法兰盘与法兰盖之间的密封圈处于一定的气体压力下。该试验环境与气体绝缘封闭组合电器中的密封圈的工作环境相同，使得试验测量出密封圈性能变化的数据结果与工作环境更接近，从而根据该密封圈性能变化的数据结果能够更准确的推算出密封圈的使用寿命。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本实用新型实施例中密封圈老化试验装置的结构示意图；

图2为图1的A-A截面图；

图3为本实用新型实施例中密封圈老化试验装置中第一法兰盘的结构示意图；

图4为图3的B-B截面图；

图5为本实用新型实施例中密封圈老化试验装置中第二法兰盘的结构示意图；

图6为图5的C-C截面图。

具体实施方式