[实用新型]一种元器件失效分析系统

说明书

本实用新型公开了一种元器件失效分析系统，包括：元器件接入模块、信号生成模块、开关模块、指示模块，其中，信号生成模块为通过元器件接入模块接入的待测元器件提供触发信号，开关部根据所接入的待测元器件各管脚的功能选择连接端，以及指示模块基于开关部所选择的连接端指示待测元器件的管脚输出情况。

技术领域

本实用新型涉及电路失效分析系统。更具体地，涉及一种元器件失效分析系统。

背景技术

随着元器件在各种电子产品中的广泛应用，元器件的成品率直接影响着电子产品的功能实现与可靠性，甚至关系到电子产品的成品率。因此，对元器件的失效分析变得越来越重要。

利用面包板插接线搭建电路进行元器件失效分析，由于产品管脚数量较多，插接线大大降低了产品失效分析的效率，同时还增加了插接错误的几率，严重时还可能造成产品的二次损伤，影响产品分析的准确性。

因此，需要针对元器件建立一个适用于多种型号、多种封装形式产品的失效分析系统，简化操作，减少时间，降低外接线的干扰，提高工作效率和分析准确度。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种元器件失效分析系统。

为达到上述目的，本实用新型采用下述技术方案：

一种元器件失效分析系统，包括：元器件接入模块、信号生成模块、开关模块、指示模块，其中，信号生成模块为通过元器件接入模块接入的待测元器件提供触发信号，开关部根据所接入的待测元器件各管脚的功能选择连接端，以及指示模块基于开关部所选择的连接端指示待测元器件的管脚输出情况。

优选地，开关模块与元器件接入模块以及指示模块电连接，信号生成模块可以根据用户需要选择性地与元器件接入模块电连接。

优选地，元器件失效分析系统还包括DB转接口，用于外接液晶实验板。

优选地，元器件失效分析系统还包括正负极接口，正负极接口包括用于与外接电源的正负极连接的正极端和负极端。

优选地，开关模块的数量与元器件接入模块的管脚数量相同。

优选地，开关模块为单刀双掷开关。

优选地，开关模块中的每个对应一个指示模块。

优选地，指示模块包括第一指示器、第二指示器、第一电阻和第二电阻。

优选地，指示器为发光二极管。

优选地，在每个指示模块中，第一保护电阻的一端与第一指示器的阳极电连接、第一保护电阻的另一端与正极端电连接，第一指示器的阴极与第二保护电阻的一端电连接，第二保护电阻的另一端与第二指示器的阳极电连接，第二指示器的阴极与负极端电连接。

优选地，开关模块的第一端子与正极端电连接，开关模块的第二端子与负极端电连接，开关模块的第三端子与开关模块所对应的指示模块中的第一指示器的阴极电连接。

优选地，开关模块的第三端子还连接有测试端子，测试端子与元器件接入部的管脚电连接。

本实用新型的有益效果如下：

本实用新型所述技术方案提供了一种适用于CMOS产品多种封装形式的元器件失效分析系统，并可以通过该系统确定失效位置，提高了元器件的质量和可靠性。

附图说明

下面结合附图对本实用新型的具体实施方式作进一步详细的说明；

图1为示出根据本公开的元器件失效分析系统的一个实施例的框图；

图2为示出根据本公开的元器件失效分析系统的一个实施例的PCB版图；