[实用新型]一种大功率芯片封装结构有效
申请号: | 201721383916.5 | 申请日: | 2017-10-24 |
公开(公告)号: | CN207367955U | 公开(公告)日: | 2018-05-15 |
发明(设计)人: | 龙立 | 申请(专利权)人: | 广东瑞森半导体科技有限公司 |
主分类号: | H01L23/14 | 分类号: | H01L23/14;H01L23/28;H01L23/373 |
代理公司: | 东莞市华南专利商标事务所有限公司 44215 | 代理人: | 姜华 |
地址: | 523000 广东省东莞市南*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 大功率 芯片 封装 结构 | ||
1.一种大功率芯片封装结构,其特征在于:包括底板、设于底板上端的第一焊料层,设于第一焊料层上端的DCB层、设于DCB层上端的第二焊料层以及设于第二焊料层上端的芯片,所述DCB层包括从下到上依次设置的第一铜层、陶瓷层和第二铜层,所述第一铜层与第一焊料层的上端连接,所述第二铜层与第二焊料层的下端连接,所述第一焊料层为锡-银-铜系合金焊料层或锡-银-铟-铋系合金焊料层,所述第二焊料层为锡-银-铜系合金焊料层或锡-银-铟-铋系合金焊料层。
2.根据权利要求1所述的一种大功率芯片封装结构,其特征在于:所述第一焊料层和第二焊料层厚度均为0.3-0.8mm。
3.根据权利要求1所述的一种大功率芯片封装结构,其特征在于:所述底板为铜底板或铝底板。
4.根据权利要求1所述的一种大功率芯片封装结构,其特征在于:所述陶瓷层为氮化铝层或氮化硼层。
5.根据权利要求4所述的一种大功率芯片封装结构,其特征在于:所述第一铜层、陶瓷层和第二铜层的厚度比为1:4-6:1。
6.根据权利要求5所述的一种大功率芯片封装结构,其特征在于:所述第一铜层、陶瓷层和第二铜层的厚度比为1:5:1。
7.根据权利要求1所述的一种大功率芯片封装结构,其特征在于:所述底板的厚度与DCB层的厚度之和为10-14mm。
8.根据权利要求7所述的一种大功率芯片封装结构,其特征在于:所述底板的厚度为7mm,DCB层的厚度为5mm。
9.根据权利要求1所述的一种大功率芯片封装结构,其特征在于:所述第一铜层、陶瓷层及第二铜层的厚度分别为0.8mm、3.5mm、0.7mm。
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