[实用新型]用于集成电路测试的承载治具有效

专利信息
申请号: 201721398800.9 申请日: 2017-10-27
公开(公告)号: CN207611070U 公开(公告)日: 2018-07-13
发明(设计)人: 王秀军;顾耀;杨征;郝纬;王濬腾 申请(专利权)人: 日月光半导体(昆山)有限公司
主分类号: G01R1/04 分类号: G01R1/04;G01R31/28
代理公司: 北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 代理人: 林斯凯
地址: 215323 江苏省*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 承载治具 集成电路测试 承载底座 本实用新型 测试集成电路 夹持件 测试成本 管理难度 轨道 配置 承载 移动
【权利要求书】:

1.一种用于集成电路测试的承载治具,其特征在于包含:

承载底座,其经配置以承载待测试集成电路;及

夹持件,其设置于所述承载底座上,与所述承载底座组合形成输送所述待测试集成电路的轨道;

其中,所述夹持件经配置以相对于所述承载底座移动,从而改变所述轨道的尺寸。

2.如权利要求1所述的用于集成电路测试的承载治具,其特征在于,所述夹持件经配置以相对于所述承载底座沿所述待测试集成电路的厚度方向移动,从而改变轨道沿所述待测试集成电路的厚度方向的尺寸。

3.如权利要求1或2所述的用于集成电路测试的承载治具,其特征在于,所述夹持件的数量为两个,两个所述夹持件相互间隔地设置在所述承载底座上,两个所述夹持件中的至少一者经配置以相对于所述承载底座沿所述待测试集成电路的宽度方向移动,从而改变所述轨道沿所述待测试集成电路的宽度方向的尺寸。

4.如权利要求3所述的用于集成电路测试的承载治具,其特征在于,所述夹持件具有第一夹持面和第二夹持面,所述第一夹持面和所述第二夹持面相交;其中,所述第一夹持面相对于所述承载底座设置以界定所述待测试集成电路的厚度,两个所述夹持件的第二夹持面相对设置以界定所述待测试集成电路的宽度。

5.如权利要求2所述的用于集成电路测试的承载治具,其特征在于,进一步包含第一调节件,所述第一调节件经配置以调节所述夹持件相对于所述承载底座沿所述待测试集成电路的厚度方向移动。

6.如权利要求5所述的用于集成电路测试的承载治具,其特征在于,所述第一调节件为第一螺杆,所述第一螺杆沿所述待测试集成电路的厚度方向贯穿所述夹持件,且所述第一螺杆的端部可相对于所述承载底座旋转地插置于所述承载底座,所述第一螺杆旋转后带动所述夹持件相对于所述承载底座沿所述待测试集成电路的厚度方向移动。

7.如权利要求5所述的用于集成电路测试的承载治具,其特征在于,所述第一调节件为垫片,一个或多个所述垫片插置于所述夹持件和所述承载底座之间以使得所述夹持件相对于所述承载底座沿所述待测试集成电路的厚度方向移动。

8.如权利要求3所述的用于集成电路测试的承载治具,其特征在于,还包括第二调节件,所述第二调节件经配置以调节所述夹持件相对于所述承载底座沿所述待测试集成电路的宽度方向移动。

9.如权利要求8所述的用于集成电路测试的承载治具,其特征在于,所述第二调节件为第一螺栓,所述第一螺栓沿所述待测试集成电路的厚度方向贯穿所述夹持件,且所述第一螺栓的端部插置于所述承载底座;所述承载底座设有沿所述待测试集成电路的宽度方向延伸的U形槽,所述第一螺栓的端部经配置以插置于所述U形槽的不同位置,从而调节所述夹持件相对于所述承载底座沿所述待测试集成电路的宽度方向移动。

10.如权利要求8所述的用于集成电路测试的承载治具,其特征在于,所述承载底座包括至少两个承载模块;所述至少两个承载模块沿所述待测试集成电路的宽度方向依次设置,且至少一个承载模块与至少一个所述夹持件联动;所述第二调节件为第二螺杆,所述第二螺杆沿所述待测试集成电路的宽度方向贯穿与所述夹持件联动的承载模块,且所述第二螺杆的端部可相对于另一承载模块旋转地插置于另一承载模块,所述第二螺杆旋转后带动与所述夹持件联动的承载模块相对于另一承载模块沿所述待测试集成电路的宽度方向移动。

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