[实用新型]新型按键测试装置

说明书

本实用新型公开并提供了一种自动进行按键测试、测试时敲击力可控和消除重复敲击现象的新型按键测试装置。本实用新型包括敲击杆和电子负载，所述敲击杆的中部设置有贯穿至下部的安装腔，所述安装腔内适配设置有铁芯杆头和绕组线圈，所述铁芯杆头穿出于所述安装腔的底部，所述绕组线圈套设在所述铁芯杆头的外部，所述绕组线圈与所述电子负载电连接本实用新型可用于键盘按键检测的技术领域。

技术领域

本实用新型涉及新型按键测试装置。

背景技术

在目前大多数电子装置都具有可供使用者操作的按键，按键的好坏直接影响了使用者对电子装置的功能操控，因此，对按键进行测试为产品出厂前的必要流程。现有的键盘按键测试有以下两种方式进行测试：1、通过人工用预定的力逐个点击键盘上的按键，依据键盘相应的输入情况判定该键盘是否为合格品，然而，用人工点击键盘，劳动强度大，效率较低；而且不能保证确实用预定的力点击键盘，甚至有时会漏了点击一些按键，或点击按键位置不符合规定。2、利用打击头作自由落体运动所产生的力来打击按键进行按键测试，但这种方法敲击键盘会出现力过大或重复打击的现象，无法满足一些客户的要求。

实用新型内容

本实用新型要解决的技术问题是提供一种自动进行按键测试、测试时敲击力可控和消除重复敲击现象的新型按键测试装置。

本实用新型所采用的技术方案是：本实用新型包括敲击杆和电子负载，所述敲击杆的中部设置有贯穿至下部的安装腔，所述安装腔内适配设置有铁芯杆头和绕组线圈，所述铁芯杆头穿出于所述安装腔的底部，所述绕组线圈套设在所述铁芯杆头的外部，所述绕组线圈与所述电子负载电连接。

进一步地，本实用新型还包括复位弹簧，所述复位弹簧套设在所述铁芯杆头上，所述复位弹簧的两端分别与所述安装腔和所述铁芯杆头相配合。

进一步地，本实用新型还包括纵向设置在所述安装腔中的若干磁铁，若干磁铁包括一个永磁铁和设置在所述永磁铁两端的两个软磁铁，若干所述磁铁的外形与所述安装腔相适配。

进一步地，所述安装腔的底部设置有直线轴承，所述直线轴承套设在所述铁芯杆头的外部,所述直线轴承与所述铁芯杆头滑动配合。

进一步地，所述绕组线圈设置在所述铁芯杆头的上部，所述绕组线圈的上下两端分别设置有上限位块和下限位块。

进一步地，所述直线轴承与所述铁芯杆头的下部相配合，所述复位弹簧位于所述直线轴承与所述下限位块之间。

进一步地，所述电子负载的电路包括微控制单元、数字模拟转换器、运算放大器、MOS管、模拟数字转换器和采样电阻，所述微控制单元与所述数字模拟转换器电连接，所述数字模拟转换器还与所述运算放大器的输入端正极电连接，所述运算放大器的输入端负极与所述MOS管的栅极电连接，所述MOS管的漏极为输入端并通过第一电阻与所述微控制单元电连接，所述MOS管的源极为输出端并与所述运算放大器的输入端负极电连接，所述MOS管的输出端通过所述采样电阻接地，所述采样电阻的接地端通过并联设置的第二电阻和第三电阻与所述模拟数字转换器的输入端负极电连接，所述采样电阻的另一端与所述模拟数字转换器的输入端正极电连接，所述模拟数字转换器的输出端与所述微控制单元电连接，所述模拟数字转换器的输入端负极及其输出端之间连接有第四电阻，所述微控制单元与所述第一电阻之间连接有第一接地电阻，所述运算放大器的输入端正极还连接有第二接地电阻，所述第三电阻的接地端和所述第二接地电阻的接地端均设置有开关，所述微控制单元控制所述数字模拟转换器输出一个高精度电压给运算放大器来控制所述MOS管的导通程度以设置输出电流，再利用所述模拟数字转换器采集所述采样电阻两端的电压返回给所述微控制单元。

进一步地，所述微控制单元还电连接有温度传感器。