[实用新型]一种MOX造粒颗粒均匀性分析装置有效

专利信息
申请号: 201721435042.3 申请日: 2017-10-30
公开(公告)号: CN207610961U 公开(公告)日: 2018-07-13
发明(设计)人: 艾利君;周国梁;陈诚;刘鹏 申请(专利权)人: 中核四0四有限公司
主分类号: G01N15/02 分类号: G01N15/02
代理公司: 核工业专利中心 11007 代理人: 任超
地址: 732850 *** 国省代码: 甘肃;62
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摘要:
搜索关键词: 分子筛 螺旋送料机构 单轴激振器 颗粒均匀性 分析装置 接料容器 筛分机构 压力升降 低目数 高目数 造粒 螺旋叶片 平面振动 竖直结构 暂存容器 重力作用 密封盖 再连接 保证
【权利要求书】:

1.一种MOX造粒颗粒均匀性分析装置,其特征在于:螺旋送料机构(1)位于整个装置最上方,竖直结构,螺旋送料机构(1)设置有螺旋片,螺旋送料机构(1)上部设有物料暂存容器(8),其为V型结构,且带有密封盖(9);螺旋送料机构(1)下方连接低目数分子筛(2),低目数分子筛(2)下方连接高目数分子筛(3),高目数分子筛(3)再连接底部接料容器(7),底部接料容器(7)下部连接单轴激振器(4),而单轴激振器(4)位于压力升降装置(5)之上;而单轴激振器(4)使筛分机构做平面振动,通过振动使粉末通过分子筛实现分离。

2.根据权利要求1所述的一种MOX造粒颗粒均匀性分析装置,其特征在于:所述螺旋送料机构(1)采用含铅不锈钢材料,厚度5mm以上。

3.根据权利要求1所述的一种MOX造粒颗粒均匀性分析装置,其特征在于:所述螺旋送料机构(1)下方通过螺纹连接低目数分子筛(2)。

4.根据权利要求1所述的一种MOX造粒颗粒均匀性分析装置,其特征在于:所述低目数分子筛(2)下方通过螺纹连接高目数分子筛(3),高目数分子筛(3)再通过螺纹连接底部接料容器(7)。

5.根据权利要求1所述的一种MOX造粒颗粒均匀性分析装置,其特征在于:在所述螺旋送料机构(1)与所述低目数分子筛(2)的连接处,低目数分子筛(2)与高目数分子筛(3)的连接处以及高目数分子筛(3)与底部接料容器(7)的连接处均设有金属密封圈(6)。

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