[实用新型]一种检测设备用晶体管收纳盒有效
| 申请号： | 201721448616.0 | 申请日： | 2017-11-01 |
| 公开（公告）号： | CN207425823U | 公开（公告）日： | 2018-05-29 |
| 发明（设计）人： | 龙立 | 申请（专利权）人： | 广东瑞森半导体科技有限公司 |
| 主分类号： | H01L21/673 | 分类号： | H01L21/673;H01L21/68 |
| 代理公司： | 东莞市华南专利商标事务所有限公司 44215 | 代理人： | 姜华 |
| 地址： | 523000 广东省东莞市南*** | 国省代码： | 广东;44 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 晶体管 收纳空间 主体部 定位孔 收纳盒 本实用新型 测试设备 定位部 种检测 平衡稳定 正对位置 等间隔 放入 施力 套接 压平 正对 | ||
1.一种检测设备用晶体管收纳盒，其特征在于：包括主体部、等间距的设于主体部的用于放置晶体管的若干收纳空间、设于主体部一侧的定位部，所述定位部等间隔的设有若干定位孔，每个收纳空间正对两个定位孔。
2.根据权利要求1所述的一种检测设备用晶体管收纳盒，其特征在于：所述收纳空间为8-30个，定位孔为16-60个。
3.根据权利要求1所述的一种检测设备用晶体管收纳盒，其特征在于：所述收纳空间为20个，定位孔为40个，每个收纳空间正对两个定位孔。
4.根据权利要求1所述的一种检测设备用晶体管收纳盒，其特征在于：所述主体部为PA主体部或PTU主体部。
5.根据权利要求1所述的一种检测设备用晶体管收纳盒，其特征在于：所述收纳空间的侧壁与底部均铺设有防静电胶垫。
6.根据权利要求1所述的一种检测设备用晶体管收纳盒，其特征在于：所述收纳盒设有盖体，所述主体部设有卡槽，盖体设有卡接于卡槽的卡接块。
7.根据权利要求6所述的一种检测设备用晶体管收纳盒，其特征在于：所述盖体为透明盖体。
8.根据权利要求6所述的一种检测设备用晶体管收纳盒，其特征在于：所述盖体为玻璃盖体或塑料盖体。
9.根据权利要求1所述的一种检测设备用晶体管收纳盒，其特征在于：所述主体部的下端固定连接有磁铁。
10.根据权利要求9所述的一种检测设备用晶体管收纳盒，其特征在于：所述磁铁的厚度为3-5mm。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于广东瑞森半导体科技有限公司，未经广东瑞森半导体科技有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201721448616.0/1.html，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 同类专利
- 专利分类
H01L 半导体器件；其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置；专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理；集成电路器件或其特殊部件的制造
