[实用新型]一种基于IC元件的测试机有效
申请号: | 201721485566.3 | 申请日: | 2017-11-07 |
公开(公告)号: | CN207601211U | 公开(公告)日: | 2018-07-10 |
发明(设计)人: | 赵金辉;高明辉 | 申请(专利权)人: | 珠海海迅软性多层板有限公司 |
主分类号: | G01R31/02 | 分类号: | G01R31/02 |
代理公司: | 北京久维律师事务所 11582 | 代理人: | 邢江峰 |
地址: | 519000 广东省珠*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 机械系统 测试机 测试架 台座 本实用新型 测试效率 相应部件 右半部 左半部 全检 制作 | ||
一种基于IC元件的测试机,包括机械系统、测试架、台座、IC测试系统,所述机械系统设置在所述台座左半部,所述测试架设置在所述机械系统内部,所述IC测试系统固定在所述台座右半部,相应部件设置在其内部。本实用新型提供的一种基于IC元件的测试机,采用IC焊盘设计引线,制作测试架,可快速、批量的对IC元件进行全检,提高了IC元件的测试效率。
技术领域
本实用新型涉及IC测试技术领域,更具体的涉及一种基于IC元件的测试机。
背景技术
IC元件在装配之前都要进行整体性能检测,以保障产品的合格率。目前,IC元件生产过程中的测试无法对元件内部引脚进行检测以剔除不良品,例如虚焊、冷焊、少锡、连锡等现象,为此元件在打件后无法从外观辨别引脚不良,增加产品的故障率。
当前针对IC引脚不良所采用检测方法主要是X-ray射线检测,但此种方法检测效率低,针对批量性的IC元件无法做到全检,同时不良品需要检测人员观察判别,生产率低劳动强度大。
因此,如何针对批量性IC元件安全、快速、有效检测一直是人们研究重点方向。
发明内容
针对现有技术不足,为解决IC元件在生产过程快速、准确进行全检问题,本实用新型提出了一种基于IC元件的测试机,通过设计IC焊盘引线、制造整板测试架,在IC元件测试机对其进行测试,进而可以快速有效实现检测。
本实用新型提出了一种基于IC元件的测试机,包括机械系统、测试架、台座、IC测试系统,所述机械系统设置在所述台座左半部,所述测试架设置在所述机械系统内部,所述IC测试系统固定在所述台座右半部,相应部件设置在其内部。
所述机械系统主要包括驱动系统、运动副杆、活动座板、导柱,所述驱动系统采用步进电机+同步带组合传动方式,所述驱动系统通过所述导柱安装在所述台座上,所述运动副杆与所述活动座板固接,所述活动座板与所述导柱之间设有直线轴承。
所述测试架包括基座和上座,所述上座与作数活动座板固接,其内设置焊盘引线用以连接所述基座;所述基座与所述台座固接,内设有IC元件安放型座;所述基座通过排线与所述测试系统连接。
作为优选所述测试架为测试用具,针对不同IC元件需要定制。
作为优选所述测试系统设有LED双色显示指示灯,用以指示测试结果,绿色表示合格,红色表示不合格。
本实用新型提供的一种基于IC元件的测试机,采用IC焊盘设计引线,制作测试架,可快速、批量的对IC元件进行全检,提高了IC元件的测试效率。
附图说明
图1为本实用新型一种基于IC元件的测试机结构示意图
图中:101、驱动系统;102、运动杆;103、活动座板;104、导柱;201、上座;202、基座;3、台座;4、测试系统
具体实施方式
下面将结合本实用新型中附图,对一种基于IC元件的测试机的技术方案进行具体描述。基于本发明实施例,本领域的普通技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例均属于本发明的保护范围。
参照图1,本实用新型涉及的是一种基于IC元件的测试机,其较佳的实施方式是:一种基于IC元件的测试机,包括机械系统1、测试架2、台座3、IC 测试系统4,所述机械系统1设置在所述台座3左半部,所述测试架2设置在所述机械系统1内部,所述IC测试系统4固定在所述台座右半部,相应部件设置在其内部。
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