[实用新型]一种计算机性能衰减测试装置

说明书

本实用新型公开了一种计算机性能衰减测试装置，包括测试仪机壳和散热扇，所述散热扇的外侧设置有散热扇保护罩，所述测试仪机壳的正面设置有显示屏所述硬盘测试模块的下方设置有数字集成电路测试功能模块，所述数字集成电路测试功能模块的底部设置有模拟集成电路测试功能模块。本实用新型的有益效果是：在装置的顶部设置散热扇，在装置的两侧设置通风槽，通过安装的这两种设备，可有效的将测试装置高速运转时产生的热能散去，保护了装置的持久运行，并产生精确的数据，还提高了检测装置的使用寿命；将硬盘检测装置和集成电路检测装置结合在一起，可对计算机内的主要两个结构装置进行检测，使得测试装置的检测效率得到提升。

技术领域

本实用新型属于测试装置相关技术领域，具体涉及一种计算机性能衰减测试装置。

背景技术

计算机的性能主要有由硬盘的性能和集成电路（芯片）的性能共同决定的，最先进的集成电路是微处理器或多核处理器的核心,可以控制电脑到手机到数字微波炉的一切，存储器和ASIC是其他集成电路家族的例子，对于现代信息社会非常重要。虽然设计开发一个复杂集成电路的成本非常高，但是当分散到通常以百万计的产品上，每个IC的成本最小化。IC的性能很高，因为小尺寸带来短路径，使得低功率逻辑电路可以在快速开关速度应用。

能够测试出硬盘和集成电路性能的测试装置日益成为人们所需的一种产品。

现有技术的测试装置存在以下问题：1、测试装置在检测计算机的硬盘或集成电路的时候高速运转会产生大量的热能，如果不能及时清理出去的话，会导致测试装置的测试结果产生偏差，严重时会对装置造成损害减少其使用寿命；2、市场上的测试装置的测试功能较为单一，要么只能测试硬盘，要么只能测试集成电路。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种计算机性能衰减测试装置，以解决上述背景技术中提出的测试装置散热性能不好以及测试功能单一的问题。

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种计算机性能衰减测试装置，包括测试仪机壳和散热扇，所述测试仪机壳的顶部设置有四个均匀分布的缓冲垫，所述测试仪机壳的两侧设置有相互对称的通风槽，所述测试仪机壳的上方设置有手提杆，两个相互对称的所述散热扇安装在测试仪机壳的顶部，所述散热扇的外侧设置有散热扇保护罩，所述测试仪机壳的正面设置有显示屏，所述显示屏的下方设置有电源接口，所述电源接口的一侧设置有USB接口，所述USB接口的另一侧设置有电源开关，所述电源开关远离USB接口的一侧设置有指示灯，所述显示屏的一侧设置有硬盘测试模块，所述硬盘测试模块的下方设置有数字集成电路测试功能模块，所述数字集成电路测试功能模块的底部设置有模拟集成电路测试功能模块。

优选的，所述手提杆通过紧固螺丝安装在测试仪机壳的顶部。

优选的，所述硬盘测试模块与测试仪机壳、数字集成电路测试功能模块与测试仪机壳、模拟集成电路测试功能模块与测试仪机壳和通风槽与测试仪机壳均为一体式结构。

优选的，所述电缓冲垫与测试仪机壳的连接方式为螺纹连接。

优选的，所述电源开关与显示屏、硬盘测试模块与显示屏、数字集成电路测试功能模块与显示屏和模拟集成电路测试功能模块与显示屏的连接方式均为电性连接。

优选的，所述散热扇保护罩与测试仪机壳的连接方式为卡合连接。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：

1、本实用新型在装置的顶部设置散热扇，在装置的两侧设置通风槽，通过安装的这两种设备，可有效的将测试装置高速运转时产生的热能散去，保护了装置的持久运行，并产生精确的数据，还提高了检测装置的使用寿命。

2、本实用新型将硬盘检测装置和集成电路检测装置结合在一起，可对计算机内的主要两个结构装置进行检测，使得测试装置的检测效率得到较大的提升。

附图说明