[实用新型]一种基于USB-PD协议老化测试装置有效

专利信息
申请号: 201721509309.9 申请日: 2017-11-14
公开(公告)号: CN207611255U 公开(公告)日: 2018-07-13
发明(设计)人: 杨乐;赖奕佳 申请(专利权)人: 芯海科技(深圳)股份有限公司
主分类号: G05B19/042 分类号: G05B19/042
代理公司: 深圳市凯达知识产权事务所 44256 代理人: 刘大弯
地址: 518067 广东省深圳市南山*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 输入模块 电压采样模块 老化测试装置 本实用新型 按键模块 电源产品 老化测试 老化模块 显示模块 主控芯片 安全可靠性 电源设备 客户需求 任意设定 移动电源 适配器 车充 厂商
【权利要求书】:

1.一种基于USB-PD协议老化测试装置,其特征在于所述装置包括有装置输入模块、主控芯片、按键模块、显示模块、负载老化模块及电压采样模块;其中,装置输入模块与需老化测试的USB-PD适配器、车充、移动电源电源设备连接,所述主控芯片与装置输入模块、按键模块,显示模块,负载老化模块,电压采样模块连接。

2.如权利要求1所述的基于USB-PD协议老化测试装置,其特征在于所述装置输入模块为TYPE-C接口母座,通过TYPE-C双公头线与需老化测试的USB-PD适配器、车充、移动电源连接。

3.如权利要求1所述的基于USB-PD协议老化测试装置,其特征在于所述装置还包括有LDO供电模块,所述LDO供电模块连接于主控芯片。

4.如权利要求3所述的基于USB-PD协议老化测试装置,其特征在于所述LDO供电模块选用3.3V输出的LDO。

5.如权利要求1所述的基于USB-PD协议老化测试装置,其特征在于所述主控芯片选用集成TYPE-C接口Rp、Rd物理层以及PD协议PHY层、死电池功能的主控芯片,通过CC1和CC2与装置输入模块相连。

6.如权利要求1所述的基于USB-PD协议老化测试装置,其特征在于所述电压采样模块包括有多个电阻,所述多个电阻采用电阻分压方式设置,电压测量范围为3.0V~21V。

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