[实用新型]一种晶振抓取测试分类装置

说明书

本实用涉及一种晶振抓取测试分类装置，包括机架，所述分度转盘右侧设置有抓取放入机构，且抓取放入机构底部设置有移动槽，所述移动槽内部设置有连接杆，且连接杆右侧设置有驱动电机，所述移动槽底部固定连接有固定柱，所述抓取放入机构右侧设置有供料器底座，且供料器底座顶部设置有供料器，所述供料器底部侧面固定连接有供料器固定片，其供料器内部设置有供料盘，且供料盘中间设置有转轴，所述测试夹具中间设置有螺丝，且螺丝外侧设置有晶体安放槽，所述取料机构侧面固定连接有取料头。该晶振抓取测试分类装置为一个整体结构，可以通过一套到套程序实现抓取、测试和筛分的过程，这使得工作效率更高，且错误率更低。

技术领域

本实用涉及晶振测试分类技术领域，具体为一种晶振抓取测试分类装置。

背景技术

晶振是石英晶体振荡器的简称，晶振是利用石英晶体（二氧化硅）的压电效应制成的一种谐振器件，晶振的生产过程是从一块石英晶体上按一定方位角切下薄片（简称为晶片，它可以是正方形、矩形或圆形等），在它的两个对应面上涂敷银层作为电极，在每个电极上各焊一根引线接到管脚上，再对其进行调频和封装，并在封装内部添加IC组成振荡电路的晶体元件制成晶体振荡器，而在这一过程中需要对晶体进行抓取、测试和筛分。

目前现有的抓取、测试和筛分的过程都是分开进行的，这样的操作过程比较麻烦，且分开进行时可能造成晶体的遗漏，和分类的错误，且工作效率不高。

发明内容

本实用的目的在于提供一种晶振抓取测试分类装置，以解决上述背景技术中提出的现有的抓取、测试和筛分的过程都是分开进行的，这样的操作过程比较麻烦，且分开进行时可能造成晶体的遗漏，和分类的错误，且工作效率低的问题。

为实现上述目的，本实用提供如下技术方案：一种晶振抓取测试分类装置，包括机架，所述机架表面固定连接有取料机构，其取料机构底部固定连接有电机连接杆，且电机连接杆底部固定连接有取料驱动电机，所述取料机构右侧设置有分料盒，且分料盒表面设置有入料口，所述分料盒前端设置有分度转盘，其分度转盘底部设置有升降机构，且升降机构侧面设置有测试针，所述分度转盘表面设置有测试夹具，且分度转盘底部设置有分度器，所述，所述分度转盘右侧设置有抓取放入机构，且抓取放入机构底部设置有移动槽，所述移动槽内部设置有连接杆，且连接杆右侧设置有驱动电机，所述移动槽底部固定连接有固定柱，所述抓取放入机构右侧设置有供料器底座，且供料器底座顶部设置有供料器，所述供料器底部侧面固定连接有供料器固定片，其供料器内部设置有供料盘，且供料盘中间设置有转轴，所述测试夹具中间设置有螺丝，且螺丝外侧设置有晶体安放槽，所述取料机构侧面固定连接有取料头。

优选的，所述抓取放入机构为双驱动结构，且抓取放入机构通过连接杆构成伸缩连接结构。

优选的，所述测试夹具的数量为15个，且测试夹具于分度转盘表面呈环状分布。

优选的，所述测试夹具通过螺丝与分度转盘采用螺栓固定连接方式相连接。

优选的，所述分度转盘通过分度器与机架构成旋转结构，且分度转盘每次的旋转角度与测试夹具之间的角度相同。

优选的，所述供料盘为螺旋状结构，且供料盘与供料器采用旋转活动连接方式相连接。

优选的，所述入料口与取料头分布于同一平面，且入料口呈等距分布。