[实用新型]一种反应力锥考评专用尺有效

专利信息
申请号: 201721523602.0 申请日: 2017-11-15
公开(公告)号: CN207688786U 公开(公告)日: 2018-08-03
发明(设计)人: 王福生 申请(专利权)人: 上海三原电缆附件有限公司
主分类号: G01B5/02 分类号: G01B5/02
代理公司: 上海信好专利代理事务所(普通合伙) 31249 代理人: 周乃鑫
地址: 201206 上海*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 反应力锥 测量 专用尺 第一端部 本实用新型 半导电体 侧面部 质量和安全 电缆接头 一端连接 电缆头 电缆 检验
【权利要求书】:

1.一种反应力锥考评专用尺,其特征在于,该专用尺包括:

反应力锥测量部(10),以及

与所述的反应力锥测量部(10)一端连接的半导电体测量部(20);

所述的反应力锥测量部(10)具有第一端部和第一侧面部,该第一端部和第一侧面部连接并呈角度;

所述的第一端部与所述的半导电体测量部(20)连接。

2.根据权利要求1所述的反应力锥考评专用尺,其特征在于,所述的半导电体测量部(20)为长方体结构;

所述的第一端部的表面与所述的半导电体测量部(20)的一表面相适配且连接。

3.根据权利要求2所述的反应力锥考评专用尺,其特征在于,所述的第一端部和第一侧面部之间的角度为0~90°。

4.根据权利要求1-3中任意一项所述的反应力锥考评专用尺,其特征在于,该专用尺还包括:与所述的反应力锥测量部(10)另一端连接的测量固定部(30),以及与所述的半导电体测量部(20)连接的辅助端部(40)。

5.根据权利要求4所述的反应力锥考评专用尺,其特征在于,所述的测量固定部(30)为长方体结构;

所述的反应力锥测量部(10)还具有第二端部,该第二端部与第一侧面部连接,且与所述的第一端部相互平行;

所述的第二端部的表面与所述的测量固定部(30)的一表面相适配且连接。

6.根据权利要求5所述的反应力锥考评专用尺,其特征在于,所述的半导电体测量部(20)、反应力锥测量部(10)、测量固定部(30)和辅助端部(40)成一体结构。

7.根据权利要求5或6所述的反应力锥考评专用尺,其特征在于,所述的反应力锥测量部(10)为梯形体结构。

8.根据权利要求7所述的反应力锥考评专用尺,其特征在于,所述的反应力锥测量部(10)和半导电体测量部(20)的连接处设有第一标记部(1);

所述的反应力锥测量部(10)和测量固定部(30)的连接处设有第二标记部(2);

所述的半导电体测量部(20)和辅助端部(40)的连接处设有第三标记部(3)。

9.根据权利要求8所述的反应力锥考评专用尺,其特征在于,所述的半导电体测量部(20)的长方体的高度(h1)为5~15cm;所述的反应力锥测量部(10)的梯形体的高度(h2)为70~90cm;所述的测量固定部(30)的长方体的高度(h3)为20~40cm。

10.根据权利要求9所述的反应力锥考评专用尺,其特征在于,所述的半导电体测量部(20)的长方体的高度(h1)为10cm;所述的反应力锥测量部(10)的梯形体的高度(h2)为80cm;所述的测量固定部(30)的长方体的高度(h3)为30cm。

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