[实用新型]一种干簧管寿命检测装置

说明书

一种干簧管寿命检测装置，包括控制器单元、4个通断计数单元、人机界面单元、磁控驱动单元、振荡器单元。所述装置能够同时对4个干簧管的通断次数分别进行计数得到通断计数值，并依据通断计数值的计数与干簧管的通断之间不同步次数的多少判断干簧管的通断计数值是否合格来确定干簧管是否失效；通断计数单元中的抗脉冲干扰电路能够滤除计数脉冲中的边沿抖动干扰，保证了干簧管寿命检测的精确性。

技术领域

本实用新型涉及测试方法与装置领域，尤其涉及一种干簧管寿命检测装置。

背景技术

干簧管寿命一般在数十万次至几百万次。模拟干簧管的使用条件，通过控制干簧管通断产生电脉冲，通过对电脉冲进行计数，可以测试干簧管寿命。干簧管通断所产生的电脉冲含有边沿抖动，直接对未处理的脉冲进行计数，会产生极大的误差。使用MCU软件延时方式去除抖动脉冲的影响，当MCU需要同时对多个干簧管进行寿命测试时，MCU的软件延时方式会使MCU力不从心。

发明内容

为了解决现有干簧管寿命检测方面所存在的问题，本实用新型提供了一种干簧管寿命检测装置，包括控制器单元、4个通断计数单元、人机界面单元、磁控驱动单元、振荡器单元。

人机界面单元电性连接至控制器单元，用于发出检测命令，显示4个干簧管的寿命；控制器单元电性连接至磁控驱动单元，向磁控驱动单元发出磁控驱动信号，控制4个干簧管的通断；振荡器单元输出采样时钟脉冲至4个通断计数单元；4个通断计数单元分别对4个干簧管的通断进行计数得到4个通断计数值；通断计数单元电性连接至控制器单元，用于控制器单元分别读入4个通断计数单元的通断计数值。

4个通断计数单元的通断计数值均采用三态缓冲方式输出；4个三态缓冲输出端口全部并联至控制器单元的计数数据输入端口；控制器单元发出4个选通控制信号分别连接至4个三态缓冲输出端口的使能控制端。

4个通断计数单元均包括结构与组成相同的脉冲产生电路、抗脉冲干扰电路和三态输出计数电路。脉冲产生电路输出由干簧管通断所产生的初始脉冲至抗脉冲干扰电路；抗脉冲干扰电路对初始脉冲进行脉冲滤波，输出计数脉冲；三态输出计数电路对计数脉冲进行计数，输出通断计数值。

所述抗脉冲干扰电路包括移位寄存器、抗干扰阈值设定器、ROM存储器、RS触发器。移位寄存器的输入为初始脉冲和采样时钟脉冲，输出为5位序列数据；抗干扰阈值设定器输出2位抗干扰阈值；ROM存储器的地址输入为5位序列数据和2位抗干扰阈值，输出为第一置位信号和第二置位信号；RS触发器的输入为第一置位信号和第二置位信号，输出为计数脉冲。

所述ROM存储器有7位地址输入端和2位数据输出端；7位地址输入端中的5个连接至移位寄存器的5位并行输出端，用于输入5位序列数据；7位地址输入端中的另外2个连接至抗干扰阈值选择器输出端，用于输入2位抗干扰阈值；ROM存储器的2位数据输出端分别输出第一置位信号和第二置位信号。

第一置位信号连接至RS触发器的置位输入端，第二置位信号连接至RS触发器的复位输入端；输出脉冲从RS触发器的同相输出端或者反相输出端输出。

所述抗干扰阈值为M，M为大于等于0且小于等于2的整数。ROM存储器的功能是，当输入的5位序列数据中“1”的个数大于等于5-M时，输出的第一置位信号有效；当输入的5位序列数据中“1”的个数小于等于M时，输出的第二置位信号有效。

本实用新型的有益效果是：能够同时对多个干簧管的寿命进行检测；采用抗脉冲干扰电路自动滤除干簧管通断所产生的电脉冲中的边沿抖动干扰，滤除脉冲干扰的效果能够通过改变抗干扰阈值的大小进行调节，保证了干簧管寿命检测的精确性；采用在控制器单元外部设置多个计数器分别对干簧管的通断次数进行计数的方式，同时检测干簧管寿命的干簧管数量不受控制器单元内部计数器数量的限制。

附图说明

图1为干簧管寿命检测装置实施例框图；