[实用新型]一种激光粒度仪新型光电探测器

说明书

本实用新型提供的新型光电探测器，包括多个探测区间及相应的引线，探测器的中心为通光孔，其特征在于：每个探测区间为具有相同弧度的两个同心圆的非相交扇形区域，每个探测区间具有内弧线和外弧线，内弧线到通光孔中心的距离为内半径，外弧线到通光孔中心的距离为外半径，所述多个探测区间的内、外弧线与通光孔居于一系列具有不同半径的同心圆上；多个探测区间的前若干个探测区间以圆形通光孔为中心，奇数环探测区间位于通光孔上侧，偶数环探测区间位于通光孔下侧；后若干个探测区间以通光孔为中心，均位于通光孔及前若干个探测区间左侧。提供一种无间隙、高分辨率的激光粒度仪新型光电探测器，光电一致性好，利于信号采集，可全面收集探测角度内的颗粒信息，并细分探测小角度，使得较大颗粒测试分辨率大大提升。

技术领域

本实用新型涉及一种激光粒度仪的仪器配件，具体的说是一种用于激光粒度仪进行颗粒粒度测试时使用的新型光电探测器。

背景技术

激光粒度仪在颗粒粒度测试涉及领域发挥着日益重要的作用，其工作原理基于MIE散射理论。光电探测器为核心部件，其作用是将不同散射角的光信号转化为电信号，进而实现颗粒粒度的分析。激光粒度仪光电探测器的结构形貌不仅影响着信号的收集，而且决定着动态测量范围内粒度的划分和测量衍射角的大小，直接影响到整个仪器的测试能力。现有技术中的光电探测器的弧度较大，探测面积较大，较难全面的获取颗粒信息，分辨率较低，如何提高光电探测器的性能，成为激光粒度仪改进的重要指标。

发明内容

为了克服现有技术中存在的缺陷，本实用新型是在现有光电探测器的基础上，提供一种无间隙、高分辨率的激光粒度仪新型光电探测器，光电一致性好，利于信号采集，可全面收集探测角度内的颗粒信息，并细分探测小角度，使得较大颗粒测试分辨率大大提升。

本实用新型的技术方案为：包括多个探测区间及相应的引线，探测器的中心为通光孔，其特征在于：每个探测区间为具有相同弧度的两个同心圆的非相交扇形区域，每个探测区间具有内弧线和外弧线，内弧线到通光孔中心的距离为内半径，外弧线到通光孔中心的距离为外半径，所述多个探测区间的内、外弧线与通光孔居于一系列具有不同半径的同心圆上；多个探测区间的前若干个探测区间以圆形通光孔为中心，奇数环探测区间位于通光孔上侧，偶数环探测区间位于通光孔下侧；后若干个探测区间以通光孔为中心，均位于通光孔及前若干个探测区间左侧。

进一步的，所述多个探测区间的内、外半径及探测面积均呈指数函数分布。

进一步的，所述多个探测区间的扇形弧度不完全相同，且均小于180°。

进一步的，所述前若干个探测区间的相邻两个奇偶探测区间满足：奇数探测区间的外半径与偶数探测区间的内半径相同。

进一步的，所述多个探测区间的个数为38个，其中所述前若干个探测区间为18个，后若干个探测区间为20个。

进一步的，前18个探测区间的弧度不完全相同，第19个-第28个探测区间具有相同的弧度，第29个-第38个探测区间具有相同的弧度。

进一步的，第19个—第28个探测区间的弧度大于第29个—第38个探测区间的弧度。

进一步的，前18个探测区间中的第6-16个探测区间的弧度相同、其余的探测区间的弧度各不相同。

进一步的，第19个-第38个探测区间的相邻探测区间之间有空白区，空白区间距呈递增趋势。

进一步的，每个探测区间的引线数不同。

附图说明

图1为本实用新型提供的一种激光粒度仪新型光电探测器的结构示意图。

图中，1.通光孔，2.探测区间，3.空白区间距，4.第17个探测区间，5.第18个探测区间，6.第19个探测区间，7.第28个探测区间，8.第29个探测区间，9.第38个探测区间。