[实用新型]一种纳米亚微米测试装置

说明书

本实用新型公开了一种纳米亚微米测试装置，包括样品窗1、激光器2、第一探测器3、第二探测器、支架6、上盖7、下盖8、进水口9、出水口10，所述样品窗1固定在上盖7和下盖8之间，上盖7和下盖8上分别有进水口9和出水口10，在样品窗1的后侧固定的第一探测器3为19联探测器，在样品窗1的前侧依次固定有激光器2、第二探测器和支架6。其中样品窗1、第一探测器3、第二探测器和激光器2的角度位置等均经过精确计。本实用新型测试精度高，操作简单，光学器件便于维护，避免了长时间运行造成测试误差。

技术领域

本实用新型属于颗粒测试技术领域，具体是一种用来测量纳米亚微米段颗粒粒径粒度的纳米亚微米测试装置。

背景技术

现在市场上的激光粒度仪大都基于MIE散射原理，测试速度快、精确度高，但是存在一个共同缺陷，就是由于全反射现象存在48.8°≤α≤131.2°的测试盲区，导致纳米亚微米段测试结果不理想，而随着纳米技术的快速发展，这一段的测试越来越重要。目前存在的有双光路、斜入射等方法测试亚微米段，但对更难测试的纳米段，始终没有好的解决方案。

实用新型内容

为解决以上问题，本实用新型提供了一种同时解决纳米及亚微米段测试的纳米亚微米测试装置。

本实用新型所采用的技术方案如下：

一种纳米亚微米测试装置，包括样品窗1、激光器2、第一探测器3、第二探测器、支架6、上盖7、下盖8、进水口9、出水口10，其特征在于：所述样品窗1固定在上盖7和下盖8之间，上盖7和下盖8上分别有进水口9和出水口10，所述第一探测器3安装在样品窗1的后侧，所述激光器2、第二探测器、支架6依次安装在样品窗1的前侧，所述样品窗1分别有靠近激光器2的入光面和靠近第一探测器3的出光面，激光器2发射的光束主轴与样品窗1的入光面形成一夹角，所述夹角为10°至90°。

进一步的，所述样品窗1为透明正方体空腔结构，样品窗1为石英或其他透光率较高的材质。

进一步的，所述激光器2为半导体激光器。

进一步的，所述第一探测器3为19个并排设计的硅光探测器，与样品窗1的入光面和出光面平行设置，与样品窗1之间的距离为根据检测要求设置的固定值，用于接收激光光束经过样品窗1后的散射光信号。

进一步的，所述第二探测器为由第一硅光二极管4、第二硅光二极管5构成的硅光探测器，用来接收激光光束经过样品窗1后的一定角度的散射光信号。

所述样品窗1为高透明石英玻璃材质，耐磨、易维护，为本结构的信号发生装置。

所述激光器2为半导体激光器，为本结构的发射装置。

所述第一探测器3为一系列并列封装的硅光探测器，优选19个并排设计的硅光探测器，为本结构的主要信号接收装置。

所述第二探测器为两个相同的硅光二极管，为本装置辅助信号接收装置。

本实用新型有以下有益效果:

1.所述激光器为半导体激光器，为准直平行光束，为稳定的信号源。

2.待测样品悬浮液经进水口至样品窗待测区域，激光器发射的光束经过待测样品悬浮液时发出散射信号，测试完成后经出水口流出，然后用清水重复清洗2-3次即可，测试速度快易维护，不会因为测试样品的不同而相互干扰。

3.第一探测器和第二探测器用来接收待测样品悬浮液的散射光信号，系统配备软件部分，会根据每个探测器上接收到的散射光信号，计算出响应的粒径和粒度分布，响应速度快、灵敏度高。

4.整个结构为模块化设计，客户使用时不用进行任何调整，操作简单易学，避免因操作不当产生误差。

附图说明：

图1为本实用新型结构示意图；