[实用新型]存储器系统和电子系统

说明书

本公开涉及一种存储器系统和电子系统。应用数据以及与该应用数据相关联的纠错码(ECC)校验位存储在第一存储器中。ECC校验位而不是应用数据存储在第二存储器中。响应于从第一存储器读取应用数据的请求，也从第一存储器读取ECC校验位并用于检测、以及可能纠正所读取应用数据中的错误。进一步从第一存储器和第二存储器输出ECC校验位以用于逐位比较。响应于逐位比较的失败，产生指示了第一存储器和第二存储器的一个或另一个或两者的可能故障的信号。

技术领域

本公开总体涉及一种用于存储数据的存储电路或系统，并且具体涉及通过测试冗余地存储的错误纠正码(ECC)校验位而验证存储器电路的适当操作。

背景技术

许多系统包括用于存储应用数据的存储器电路。系统的适当操作取决于所存储的应用数据的准确性。然而，已知的是，存储器电路可以存储和/或检索包括码位错误的应用数据。例如，码位错误可以与用于向存储器写入应用数据有关的操作而引入。码位错误也可以与从存储器读取应用数据有关的操作而引入。也能够在由存储器存储应用数据的时间段期间引入码位错误。为了解决关于在应用数据中该码位错误的问题，现有技术已知在存储之前对应用数据应用错误纠正码(ECC)，在本领域也称作向前错误纠正(FEC)。该编码过程添加冗余数据(例如以校验位的形式)至应用数据，应用数据以及其相关联的冗余数据存储在存储器电路中。当稍后需要时，从存储器电路检索应用数据以及其相关联的冗余数据，并且使用冗余数据以检测在所检索应用数据中错误的存在，以及在一些情形中纠正所检测的错误。

然而，对于给定ECC可以纠正的错误数目和类型是有限的。出现超过该限值的码位错误可能导致不可预测的结果。这可能是因为存储器电路内操作环境或故障的条件。这些不可靠行为在一些应用中可以不是可接受的。此外，ECC可以无法检测存储器电路故障的情况。

特别关注存储器电路的逻辑电路的故障。考虑所涉及的待解决的以下故障：具有ECC的应用数据被写入存储器电路内的第一存储器地址，但是由于存储器电路内逻辑电路的故障，该应用数据被替代地写入第二存储器地址。该故障引起三个问题。首先，数据已经被存储在错误的地址处(也即第二存储器地址)。其次，已经覆盖了在该错误地址处的好的数据。第三，应该被覆盖的数据仍然存在于正确地址处(也即第一存储器地址)处的存储器电路中。在存储器操作中检测该故障是重要的。然而，ECC并未提供足够的保护，因为当从第一存储器地址进行后续读取时，与ECC相对的读取数据将可能不会揭示数据错误。类似地，从第二存储器地址进行后续读取也将可能不揭示数据错误。

考虑关于芯片选择的以下故障：由主机请求应用数据以写入某一所选择的存储器芯片，但是由于存储器电路内用于对芯片选择(CS)信号做出响应的逻辑电路的故障，并未发生对存储器的写入。因此，应该存储在存储器电路中地址处的应用数据并未存在，并且应该被覆盖的数据仍然存在于该地址处的存储器电路中。同样地，该故障的检测是重要的。然而，ECC并未提供足够的保护，因为当进行从存储器地址的后续读取时，与ECC相对的读取数据将可能不会揭示数据错误。

本领域需要解决在存储器电路操作中故障的检测。

实用新型内容

鉴于上述问题，本公开的实施例旨在解决或缓解上述问题中的至少一部分。

在一个实施例中，一种存储器系统包括：第一存储器；第二存储器；存储器控制器，被配置用于：应用存储器地址至第一存储器和第二存储器，将纠错码(ECC)校验位写入第一存储器和第二存储器中的所述存储器地址，并且仅从在所述存储器地址处的第一存储器读取ECC校验位；以及比较器电路，被配置用于：从在第一存储器和第二存储器中的所述存储器地址获得ECC校验位，并且执行从第一存储器和第二存储器接收的ECC校验位的逐位比较，以产生指示如下信号，其指示如果ECC校验位的逐位比较失败则第一存储器和第二存储器中的一个或多个存在故障。