[实用新型]一种基于分束镜获取颗粒分层图像的成像装置

说明书

本实用新型公开一种基于分束镜获取颗粒分层图像的成像装置，包括使被测物内部发光的光源，所述光源的光线从被测物内部向一侧照射，被测物一侧的光路上依次设有物镜、分束镜；所述分束镜将与原光束分为两路新光束，每束新光束的光路上设有成像装置。相对现有技术，本实用新型技术方案通过分束镜进行颗粒物图像的分光，通过调节成像装置的距离和相关变量，实现颗粒物的多层次清晰成像，并且根据待观察颗粒成像特点，将颗粒物划分为若干需求的焦平面，从而完成颗粒物在介质中的快速成像。

技术领域

本实用新型涉及光学成像技术领域颗粒计数技术领域，特别涉及一种基于分束镜获取颗粒分层图像的成像装置。

背景技术

现有技术中，机械工业设备的状态诊断中，磨损分析为运动设备状态分析的重要分析手段，可以根据不同颗粒形态得出相应的磨损机理，从而得到机械的运动状态。其中颗粒成像是获取颗粒形态最直观且信息量最完整的方法，可分析出颗粒的尺寸大小、颜色以及纹理等信息。

现有的颗粒图像获取方法中，光学显微镜可以表现出焦平面成像清晰，但其余平面成像模糊，因此难以获取完整的颗粒信息。

为解决上述的问题，本领域技术人员采取连续调节焦平面高度获取各层次的颗粒图像，但是上述方法不能对高速运动的颗粒同时进行焦平面拍摄，因此连续调节焦平面高速方法限制颗粒图像获取适用范围。

实用新型内容

本实用新型的主要目的是提出一种结构简单的基于分束镜获取颗粒分层图像的成像装置，旨在解决颗粒物的分层图像观察的技术问题。

为实现上述目的，本实用新型提出的一种一种基于分束镜获取颗粒分层图像的成像装置，其特征在于，包括使被测物内部发光的光源，所述光源的光线从被测物内部向一侧照射，被测物一侧的光路上依次设有物镜、分束镜；所述分束镜将与原光束分为两路新光束，每束新光束的光路上设有成像装置。

优选地，所述分束镜可为等比例分光或不等比例分光。

优选地，所述分束镜的工作面与光路的夹角为45°，所述分束镜将原光束分为与原光束垂直以及平行的两束光束。

优选地，所述分束镜和所述成像装置之间设有微调透镜设置于新光束的光路上。

优选地，所述物镜可对被测物采集图像进行放大或缩小。

优选地，所述成像装置为CCD图像传感器或CMOS图像传感器。

本实用新型技术方案相对现有技术具有以下优点：

本实用新型技术方案包括光源、物镜、分束镜、微调透镜和成像装置，被测物图像经过物镜后的光线通过分束镜进行分束，各束光线分别通过微调透镜进入成像装置内。本实用新型实施例的在整体结构设计中无移动部件和切换部件，保证了整体结构的稳定性。

与此同时，本实用新型技术方案根据所需层次的颗粒图像，精准检测颗粒的信息，与此同时，通过图像处理合成大景深图像，避免景深不足导致的图像局部模糊的技术问题。另外，实用新型技术方案能够实现高速运动颗粒的同时成像，可根据翻滚颗粒高速成像重构颗粒的三维图像。

另外，本实用新型技术方案中，通过物镜倍数放大实现被检测颗粒物的轮廓观察，其中物镜倍数缩小实现较大视野的颗粒物计数。而通过微调透镜在颗粒物图像进入成像装置实现颗粒物图像的放大或者缩小，从而进行适应性的观察。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图示出的结构获得其他的附图。

图1为本实用新型基于分束镜获取颗粒分层图像的成像装置实施例1的结构示意图；