[实用新型]一种北斗芯片测试装置

说明书

本实用新型公开了一种北斗芯片测试装置，包括用于测试北斗芯片的盒体状机箱壳体和与机箱壳体相配装的机箱上盖板，所述机箱壳体内的底板上通过螺栓固定有用于测试北斗芯片性能的芯片测试主板，芯片测试主板上固定设置有与芯片测试主板连接用于放置待测试北斗芯片的芯片测试座；所述机箱上盖板上对应芯片测试座的位置开设有用于放入芯片进行测试的测试窗口，机箱上盖板上设置有通过固定在机箱上盖板下端面测试窗口前后两侧的滑盖板导轨进行左右滑动、用于开启和关闭测试窗口的测试窗口滑盖板。本实用新型结构简单、操作方便，通过设置的测试窗口滑盖板，防止异物落入测试箱，保证了测试的可靠性，提高了工作效率。

技术领域

本实用新型涉及芯片测试技术领域，特别是一种用于测试北斗芯片的装置。

背景技术

近年来，随着我国卫星导航定位技术的快速发展和应用，北斗芯片作为卫星导航定位技术的基础和核心，需求量越来越大，为了保证北斗芯片的功能和性能，北斗芯片出厂前的测试必不可少，所以一种既安全又操作方便的北斗芯片测试装置显得尤为重要。

目前，北斗芯片测试装置设置在一个密闭的箱体内，测试时需要用工具拧下箱体盖板的紧固螺钉，拆开箱体盖板后才能进行测试，并且在测试过程中容易掉入异物，影响北斗芯片的测试性能，当掉落的异物落在芯片测试主板上，还有可能造成芯片测试主板短路等故障出现，影响北斗芯片的测试。

实用新型内容

本实用新型需要解决的技术问题是提供一种结构简单、操作方便的北斗芯片测试装置，防止异物落在芯片测试主板上造成测试失效，提高工作效率。

为解决上述技术问题，本实用新型所采取的技术方案如下。

一种北斗芯片测试装置，包括用于测试北斗芯片的盒体状机箱壳体和与机箱壳体相配装的机箱上盖板，所述机箱壳体内的底板上通过螺栓固定有用于测试北斗芯片性能的芯片测试主板，芯片测试主板上固定设置有与芯片测试主板连接用于放置待测试北斗芯片的芯片测试座；所述机箱上盖板上对应芯片测试座的位置开设有用于放入芯片进行测试的测试窗口，机箱上盖板上设置有通过固定在机箱上盖板下端面测试窗口前后两侧的滑盖板导轨进行左右滑动、用于开启和关闭测试窗口的测试窗口滑盖板。

上述一种北斗芯片测试装置，所述芯片测试主板上方通过六角铜柱固定有用于防止异物落入芯片测试主板的遮盖板。

上述一种北斗芯片测试装置，位于测试窗口右侧的机箱上盖板下端面上设置有用于吸附测试窗口滑盖板的磁铁，所述磁铁通过磁铁安装架固定在机箱上盖板的下端面上。

上述一种北斗芯片测试装置，所述测试窗口滑盖板为普通碳钢滑盖板。

由于采用了以上技术方案，本实用新型所取得技术进步如下。

本实用新型结构简单、操作方便，在测试芯片时，只需要轻轻推开测试窗口滑盖板，放入芯片便可以进行测试，测试完成后，拉合测试窗口滑盖板，防止异物落入测试箱，保证了测试环境的清洁，芯片测试主板上方的遮盖板，更进一步防止异物掉入芯片测试主板上，保证了测试的可靠性，提高了工作效率。

附图说明

图1为本实用新型的结构示意图；

图2为本实用新型的整机剖视图；

其中：1.机箱壳体、2.机箱上盖板、3.测试窗口滑盖板、4.磁铁、5.磁铁安装架、6.滑盖导轨、7.芯片测试主板、8.芯片测试座、9.六角铜柱、10.遮盖板。

具体实施方式

下面将结合具体实施例对本实用新型进行进一步详细说明。