[实用新型]一种三余度的薄膜压力敏感元件有效

专利信息
申请号: 201721604021.X 申请日: 2017-11-27
公开(公告)号: CN207622899U 公开(公告)日: 2018-07-17
发明(设计)人: 潘婷;戚龙;戚云娟;闫军花;薛小婷;李莹 申请(专利权)人: 陕西电器研究所
主分类号: G01L1/22 分类号: G01L1/22;G01L9/04
代理公司: 西安文盛专利代理有限公司 61100 代理人: 李中群
地址: 710025 陕西省*** 国省代码: 陕西;61
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 应变电阻 应变合金 惠斯通电桥 薄膜压力 敏感元件 本实用新型 测量 保护膜 离子束溅射沉积 测量输出信号 三路输出信号 介质膜表面 金属材料 电阻组成 端子区域 光刻工艺 冗余设计 冗余信号 输出信号 表面镀 介质膜 膜形成 电阻 镍膜 三路 输出 制作
【权利要求书】:

1.一种三余度的薄膜压力敏感元件,其特征在于:包括一个金属材料制帽形弹性体(1),在弹性体(1)的表面镀有一层1.0~2.0微米厚的由SiO2薄膜和Si3N4薄膜叠加构成的介质膜(2),在介质膜(2)的表面通过离子束溅射沉积工艺镀有一层100~200纳米厚的应变合金膜(3),在应变合金膜(3)的表面通过光刻工艺形成的应变电阻区,所述的应变电阻包括六对电阻,每两对电阻组成一个独立的惠斯通电桥,并形成一路输出信号,三个惠斯通电桥形成三路输出信号,在应变合金膜(3)的应变电阻区域上镀有100~200纳米厚的保护膜(4),在保护膜(4)上位于应变合金膜(3)形成的应变电阻的端子区域镀有厚度为300~400纳米的镍膜(5)。

2.根据权利要求1所述的三余度的薄膜压力敏感元件,其特征在于:所述的保护膜(4)为离子束溅射沉积氮化硅薄膜,所述的镍膜(5)采用离子束溅射制备而成。

3.根据权利要求1所述的三余度的薄膜压力敏感元件,其特征在于:每一个惠斯顿电桥都是由四个应变电阻组成,四个应变电阻分别位于弹性体(1)受力后的表面应变区域内。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于陕西电器研究所,未经陕西电器研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201721604021.X/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top