[实用新型]一种三余度的薄膜压力敏感元件有效
申请号: | 201721604021.X | 申请日: | 2017-11-27 |
公开(公告)号: | CN207622899U | 公开(公告)日: | 2018-07-17 |
发明(设计)人: | 潘婷;戚龙;戚云娟;闫军花;薛小婷;李莹 | 申请(专利权)人: | 陕西电器研究所 |
主分类号: | G01L1/22 | 分类号: | G01L1/22;G01L9/04 |
代理公司: | 西安文盛专利代理有限公司 61100 | 代理人: | 李中群 |
地址: | 710025 陕西省*** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 应变电阻 应变合金 惠斯通电桥 薄膜压力 敏感元件 本实用新型 测量 保护膜 离子束溅射沉积 测量输出信号 三路输出信号 介质膜表面 金属材料 电阻组成 端子区域 光刻工艺 冗余设计 冗余信号 输出信号 表面镀 介质膜 膜形成 电阻 镍膜 三路 输出 制作 | ||
1.一种三余度的薄膜压力敏感元件,其特征在于:包括一个金属材料制帽形弹性体(1),在弹性体(1)的表面镀有一层1.0~2.0微米厚的由SiO2薄膜和Si3N4薄膜叠加构成的介质膜(2),在介质膜(2)的表面通过离子束溅射沉积工艺镀有一层100~200纳米厚的应变合金膜(3),在应变合金膜(3)的表面通过光刻工艺形成的应变电阻区,所述的应变电阻包括六对电阻,每两对电阻组成一个独立的惠斯通电桥,并形成一路输出信号,三个惠斯通电桥形成三路输出信号,在应变合金膜(3)的应变电阻区域上镀有100~200纳米厚的保护膜(4),在保护膜(4)上位于应变合金膜(3)形成的应变电阻的端子区域镀有厚度为300~400纳米的镍膜(5)。
2.根据权利要求1所述的三余度的薄膜压力敏感元件,其特征在于:所述的保护膜(4)为离子束溅射沉积氮化硅薄膜,所述的镍膜(5)采用离子束溅射制备而成。
3.根据权利要求1所述的三余度的薄膜压力敏感元件,其特征在于:每一个惠斯顿电桥都是由四个应变电阻组成,四个应变电阻分别位于弹性体(1)受力后的表面应变区域内。
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