[实用新型]一种带红外对射计数功能的芯片测试工装

说明书

本实用新型提供了一种带红外对射计数功能的芯片测试工装，该芯片测试工装包括芯片载体，该芯片载体设有上盖，在该上盖的下方设有下盖，该下盖安装在测试主板上，所述芯片载体安装在红外对射模块的一侧，所述红外对射模块的另一侧安装有数码记数器，所述红外对射模块的中部设有红外线挡片，所述红外对射模块和所述数码记数器与所述测试主板电连接；本实用新型能够有效解决产线测试产能统计问题，减少员工以及领班数量清点及复核等工作，提升产线测试效率，同时可以有效避免员工产量虚报的问题。

技术领域

本实用新型属于芯片测试领域，尤其涉及一种带红外对射计数功能的芯片测试工装及测试方法。

背景技术

工厂在芯片测试时，按片号进行测试筛选(其中每25片为1个砸)，使用测试工装对产品逐颗进行测试，产品测试完成后，员工手动记录测试数量并于当天下班前将测试报表提交至产线领班，由产线领班对员工测试产品和测试报表进行核实，计算员工产量，此过程涉及员工数量统计，领班数量核对的作业，同时存在员工虚报测试数量的问题(实际产品未进行测试但员工将其报入产量之内)。

实用新型内容

有鉴于此，为了克服现有技术的不足，本实用新型提供一种带红外对射计数功能的芯片测试工装，能够简单有效的统计员工测试的产量，避免员工产量虚报的问题。

为实现上述目的，本实用新型的技术方案如下：

一种带红外对射计数功能的芯片测试工装，该芯片测试工装包括芯片载体，该芯片载体设有上盖，在该上盖的下方设有下盖，该下盖安装在测试主板上，所述芯片载体安装在红外对射模块的一侧，所述红外对射模块的另一侧安装有数码记数器，所述红外对射模块的中部设有红外线挡片，所述红外对射模块和所述数码记数器与所述测试主板电连接。

进一步，所述红外对射模块的中部设有凹槽，所述红外线挡片安装在所述凹槽中。

进一步，所述红外线挡片能够在所述上盖的带动下沿着所述凹槽上下运动。

进一步，所述上盖外表面的中部设有镜头。

进一步，所述镜头能够对所述芯片载体内的待测试芯片进行拍照，并且将图像信号传给接收端。

进一步，所述接收端为电脑或手机。

进一步，所述红外对射模块能够将中断信号传输给所述数码记数器。

进一步，所述红外对射模块和所述数码记数器都安装在所述测试主板上。

本实用新型还提供一种使用带红外对射计数功能的芯片测试工装进行芯片测试的方法，包括以下步骤：

1)打开上盖将待测试芯片放入芯片载体内，然后盖上上盖；

2)按下上盖，红外线挡片在上盖的带动下沿着凹槽向下运动，从而中断红外对射模块的红外线接收，红外对射模块向数码记数器输出中断信号，数码记数器根据中断信号的次数累加记数；同时，镜头对待测试芯片进行拍照，并将图像信号传输给接收端，通过接收端能够对待测试芯片的质量进行监控；

3)打开上盖，取出已经记数和成像的测试芯片，接着放入下一个待测试芯片，然后盖上上盖，重复步骤2)，直到待测试芯片都统计完成。

本实用新型的有益效果为：本实用新型能够有效解决产线测试产能统计问题，减少员工以及领班数量清点及复核等工作，提升产线测试效率，同时可以有效避免员工产量虚报的问题。只有按下上盖，计数才生效，也即只有经过了测试过程才会发生产量累计事件。

1)芯片载体安装在红外对射模块的一侧，其中红外对射模块的中部设有凹形槽，红外线挡板安装在凹形槽中，当按下上盖时，在上盖的带动下，红外线挡板向下运动，挡住了红外对射模块红外线的接收，即数码记数器记数；