[实用新型]一种阵列式发射率参考物有效
申请号: | 201721620946.3 | 申请日: | 2017-11-27 |
公开(公告)号: | CN207472430U | 公开(公告)日: | 2018-06-08 |
发明(设计)人: | 王潇楠;李文军 | 申请(专利权)人: | 中国计量大学 |
主分类号: | G01J5/52 | 分类号: | G01J5/52 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 310018 浙江省杭州市*** | 国省代码: | 浙江;33 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 发射率 参考物 阵列式 长方体金属 本实用新型 表面单元 对称线 矩形槽 矩形翅 可选的 工作温度区间 对称式结构 基底上表面 参考样品 红外测温 基底表面 标定 基底 温场 | ||
本实用新型涉及一种阵列式发射率参考物,包括长方体金属基底,矩形槽,矩形翅,对称线,所述长方体金属基底上表面存在一系列矩形槽和矩形翅,所述长方体金属基底表面存在一根对称线。本实用新型通过设计一种阵列式发射率参考物,能够作为参考物在红外测温技术领域提供比较广泛的发射率区间,并提供连续可选的表面单元,可选的表面单元在工作温度区间内有连续稳定的发射率,其对称式结构可使温场更加稳定,对该一种阵列式发射率参考物标定后可作为发射率参考样品,小巧简单,操作方便。
技术领域
本实用新型涉及红外测温技术领域,尤其涉及一种阵列式发射率参考物。
背景技术
红外测温技术在民用和工业领域都得到了广泛应用。用红外测温设备测量物体的温度,需要知道被测物体的表面发射率。但确定物体的表面发射率却比较困难,原因是表面发射率不仅取决于物体材料种类,还和物体表面状况等因素有关。在测温过程中,为了先确定表面发射率,常用辅助方法是采用发射率已知的物体作为参考物。然而目前使用的参考物如黑胶布,规格不一,不能重复使用,寿命短,加热后易损伤,作为发射率参考物其发射率不稳定。
现阶段对于一种阵列式发射率参考物作为发射率已知的参考物不是很多,现技术有三个缺点,一是测温区间不够宽;二是在工作温度区间内,参考物体发射率是一个定值或区域值,不能连续调节;三是多数参考物体为非对称结构,其自身温场不稳定,使测量发射率精度受到影响。
实用新型内容
本实用新型的目的是为了克服现有发射率参考物的不足,提供一种阵列式发射率参考物。
本实用新型涉及一种阵列式发射率参考物,包括长方体金属基底,矩形槽,矩形翅,对称线,所述长方体金属基底上表面存在一系列矩形槽和矩形翅,所述长方体金属基底表面存在一根对称线。
作为本实用新型的优选技术方案,所述长方体金属基底作为基底,长宽高约为70mm×30mm×20mm,长方体金属基底整体为对称型结构,长方体金属基底采用纯铝制金属材料,平稳性好,导热性好,可重复使用,寿命长,其对称结构使温场更加稳定。
作为本实用新型的优选技术方案,所述矩形槽由在长方体金属基底上表面切割后切除的空间形成,矩形槽深度以对称线为中心往两侧均匀依次递增,矩形槽以对称线为轴左右对称,具有宽广的发射率分布,可提供连续可调的发射率,其对称结构使温场更加稳定。
作为本实用新型的优选技术方案,所述矩形翅由在长方体金属基底上表面切割后未被切除的部分形成,矩形翅深度以对称线为中心往两侧均匀依次递增,矩形翅以对称线为轴左右对称,矩形槽和矩形翅的在长方体金属基底上表面的宽度比例1∶3,矩形槽和矩形翅的组合使参考物发射率平稳连续分布,其对称结构使温场更加稳定。
作为本实用新型的优选技术方案,所述对称线在长方体金属基底表面,对称线平行于矩形槽且为长方体金属基底的对称轴,使温场稳定,辐射均匀。
本实用新型通过设计一种阵列式发射率参考物,能够作为参考物在红外测温技术领域提供比较广泛的发射率区间,提供连续可选金属基底(1)的对称轴,使温场稳定,辐射均匀。
本实用新型通过设计一种阵列式发射率参考物,能够作为参考物在红外测温技术领域提供比较广泛的发射率区间,提供连续可选的表面单元,可选的表面单元在工作温度区间内有连续稳定的发射率,其对称式结构可使温场更加稳定,对该一种阵列式发射率参考物标定后可作为发射率参考样品,小巧简单,操作方便。
附图说明
图1为本实用新型的结构示意图。
图1中:1.长方体金属基底;2.矩形槽;3.矩形翅;4.对称线。
具体实施方式
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国计量大学,未经中国计量大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201721620946.3/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。