[实用新型]一种高频测试探针

说明书

本实用新型涉及一种高频测试探针，包括普通探针、绝缘套管与铜管，所述普通探针、绝缘套管与铜管的轴线在同一水平线上，所述绝缘套管与所述铜管均为圆柱形结构，所述绝缘套管与所述铜管内腔均为两端开口的中空结构，所述普通探针为实心结构，所述普通探针穿设于铜管内腔，所述绝缘套管设于普通探针与铜管之间，所述普通探针与所述绝缘套管之间通过填充耐高温树脂进行密封固定，所述绝缘套管与所述铜管之间也通过填充耐高温树脂进行密封固定，组件很少，装配简单，普通探针和超细铜管之间用绝缘套管进行绝缘，使整根探针信号传输测试频率得到大幅度提升，测试频率达到了3G@—3dB，无干扰，性能稳定。

技术领域

本实用新型涉及一种高频测试探针，属于探针领域。

背景技术

探针根据电子测试用途可分为，光电路板测试探针，未安装元器件前的电路板测试和只开路、短路检测探针，国内大部分的探针产品均可替代进口产品，在线测试探针，PCB线路板安装元器件后的检测探针，高端产品的核心技术还是掌握在国外公司手中，国内部分探针产品已研发成功，可替代进口探针产品，微电子测试探针：即晶圆测试或芯片IC检测探针，核心技术还是掌握在国外公司手中，国内生产厂商积极参与研发，但只有一小部分成功生产，探针主要类型有悬臂探针和垂直探针，现有的铼钨探针在正常测试最大测试频率不超过100M，当芯片测试频率要求100M以上时通常都会使用在针尾部接一段同轴线来解决，测试频率低，干扰大，稳定性差，因此，需要进一步改进。

实用新型内容

本实用新型要解决的技术问题克服现有的缺陷，提供一种高频测试探针，由普通探针、耐高温耐腐蚀的绝缘套管以及超细铜管组成，组件很少，装配简单，普通探针和超细铜管之间用绝缘套管进行绝缘，使整根探针信号传输测试频率得到大幅度提升，测试频率达到了3G@—3dB，无干扰，性能稳定，铜管的长度可以根据不同的产品需求加长或缩短，不受制作工艺和结构的限制，更好的起到频闭的作用，从而提高探针的测试频率，并且制作简单成本低，可以有效解决背景技术中的问题。

为了解决上述技术问题，本实用新型提供了如下的技术方案：

一种高频测试探针，包括普通探针、绝缘套管与铜管，所述普通探针、绝缘套管与铜管的轴线在同一水平线上，所述绝缘套管与所述铜管均为圆柱形结构，所述绝缘套管与所述铜管内腔均为两端开口的中空结构，所述普通探针为实心结构，所述普通探针穿设于铜管内腔，所述绝缘套管设于普通探针与铜管之间，所述普通探针与所述绝缘套管之间通过填充耐高温树脂进行密封固定，所述绝缘套管与所述铜管之间也通过填充耐高温树脂进行密封固定。

进一步而言，所述绝缘套管采用耐高温耐腐蚀材质制成。

进一步而言，所述铜管采用超细铜制成。

进一步而言，所述普通探针的外径小于所述绝缘套管的内径。

进一步而言，所述绝缘套管的外径小于所述铜管的内径。

进一步而言，所述铜管的长度小于所述绝缘套管的长度。

本实用新型有益效果：本实用新型所涉及的一种高频测试探针，由普通探针、耐高温耐腐蚀的绝缘套管以及超细铜管组成，组件很少，装配简单，普通探针和超细铜管之间用绝缘套管进行绝缘，使整根探针信号传输测试频率得到大幅度提升，测试频率达到了3G@—3dB，无干扰，性能稳定，铜管的长度可以根据不同的产品需求加长或缩短，不受制作工艺和结构的限制，更好的起到频闭的作用，从而提高探针的测试频率，并且制作简单成本低，实用性强。

附图说明

附图用来提供对本实用新型的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与本实用新型的实施例一起用于解释本实用新型，并不构成对本实用新型的限制。

图1是本实用新型一种高频测试探针剖视图。

图中标号：1、普通探针；2、绝缘套管；3、铜管。