[实用新型]一种圆晶探针卡

说明书

本实用新型公开一种圆晶探针卡，包括：第一PCB板、衔接板、第二PCB板、若干探针、换向装置，设置在衔接板与第二PCB板下方，与衔接板滑动连接，与第二PCB板固定连接，换向装置可带动第二PCB板相对第一PCB板转动。本实用新型通过采用衔接板、及相对衔接板滑动连接的换向装置，使得探针的固定端省却导线连接至第一PCB板，探针的旋转不受限制，可以适应X、Y方向的垂直切换测试，或其他多方向的切换测试，避免现有技术测试换向需要卸载重新装载的麻烦。

技术领域

本实用新型涉及集成电路圆晶测试，特别涉及一种圆晶探针卡。

背景技术

在圆晶测试时，因芯片面积受限，元件被布设在X和Y两个方向的切割道上，现有的探针卡所以单元都是固定的，无法从一个方向旋转到另一个方向。在换向测试时(X方向换向至Y方向)，需要卸载后重新装载测试，显得繁琐。

实用新型内容

针对现有技术存在的问题，本实用新型提供一种圆晶探针卡，可以进行换向测试而不另外卸载重新装载，测试效率大幅提升。

为实现上述目的，本实用新型的技术方案如下：

一种圆晶探针卡，包括：

第一PCB板，其具有金属触点的，该第一PCB板呈圆环构造，其内环设有若干与每一金属触点对应电性连接的第一凸点；

衔接板，设置在第一PCB板内部且与其固定连接，其呈圆环构造，其外径与第一PCB板内径相当，该衔接板外圆周和内圆周分别设有若干第一导电触点、第二导电触点，每一第一导电触点与对应一第二导电触点电性连通；所述每一第一导电触点与第一凸点匹配接触；

第二PCB板，设置在衔接板内部，其呈圆环构造，其外径与衔接板内径相当，第二PCB板外圆周设有若干第二凸点，分别与对应的第二导电触点匹配接触；

若干探针，设置在第二PCB板上，探针的一端分别与对应的第二凸点电性连接，另一端侧向内下方延伸；

换向装置，设置在衔接板与第二PCB板下方，与衔接板滑动连接，与第二PCB板固定连接，换向装置可带动第二PCB板相对第一PCB板转动。

较佳地，所述金属触点沿第一PCB板呈均与的圆周分布。

较佳地，所述第一PCB板与衔接板呈卡扣式固定连接。

较佳地，所述第二PCB板相对第一PCB板转动90°后，每一第二凸点与每一第二导电触点仍然匹配接触。

本实用新型通过采用衔接板、及相对衔接板滑动连接的换向装置，使得探针的固定端省却导线连接至第一PCB板，探针的旋转不受限制，可以适应X、Y方向的垂直切换测试，或其他多方向的切换测试，避免现有技术测试换向需要卸载重新装载的麻烦。

附图说明

图1为本实用新型的俯视图；

图2为本实用新型剖视图。

具体实施方式

以下结合附图和具体实施例，对本实用新型进一步说明。

参照图1至图2所示，本实用新型提供一种圆晶探针卡，包括：

第一PCB板1，其具有金属触点11的，该第一PCB板呈圆环构造，其内环设有若干与每一金属触点11对应电性连接的第一凸点12；

衔接板2，设置在第一PCB板1内部且与其固定连接，其呈圆环构造，其外径与第一PCB板1内径相当，该衔接板2外圆周和内圆周分别设有若干第一导电触点21、第二导电触点22，每一第一导电触点21与对应一第二导电触点22电性连通；所述每一第一导电触点21与第一凸点12匹配接触；