[实用新型]一种液晶模组检测装置

说明书

本申请实施例中一种液晶模组检测装置，该装置包括：具有液晶模组容纳槽的托盘；所述托盘上设有转接基板，所述转接基板位于液晶模组容纳槽的下方；所述转接基板上设有多个测试点；所述转接基板的下方设有用于对待测液晶模组进行检测的探针组件；所述多个测试点与所述探针组件上的多个探针匹配对应。本申请所述技术方案将多组探针组件整合为单个探针组件，将整个探针组件压接在转接组件上的测试点上，从而消除了多组探针组件的相对公差、加工公差和装配公差，实现精确定位，避免多组探针组件压接时不同步的问题。

技术领域

本申请涉及液晶模组检测领域，尤其涉及一种用于OLED液晶模组的检测装置中探针的定位方案。

背景技术

近年来，液晶显示器(ThinFilmTransistor-LiquidCrystal Display，TFT-LCD)具有体积小、功耗低、无辐射等特点，已经广泛地应用于人们的生产和生活当中。随着用户对液晶显示器品质和性能要求的提高，各液晶显示器的生产商均在努力提高各自产品的质量和性能，以适应市场的需求。

OLED液晶模组作为液晶显示器的重要组成部分，其直接影响了液晶显示器的性能和质量。因此，对于液晶模组的检测的精准度成为液晶模组生产工序中重要的步骤之一。

液晶模组检测的过程中，探针定位的精准度直接影响探针对液晶模组检测的准确度。通常对于液晶模组探针的定位采用多点同时压接技术，即液晶模组通过探针对液晶模组的转接基板上的多个测试点进行压接。当所有的测试点都能和每根探针同时接触，就能实现液晶模组信号的传输检测。传统的压接方式采用多动作式操作压接，如图1所示，第一探针组件和第二探针组件需要两次压接，且第一探针组件和第二探针组件有相对公差，加工公差和装配公差，很难保证精确定位，压接不良率较高。

发明内容

为解决上述技术问题，本申请提供了一种液晶模组检测装置，该装置包括：具有液晶模组容纳槽1的托盘2；

所述托盘2上设有转接基板4，所述转接基板4位于液晶模组容纳槽1的下方；所述转接基板4上设有多个测试点5；

所述转接基板4的下方设有用于对待测液晶模组进行检测的探针组件6；

所述多个测试点5与所述探针组件6上的多个测试点5匹配对应。

优选地，所述液晶模组容纳槽1为在所述托盘2上沿铅锤方向开设的通槽；

待检测液晶模组3置于所述通槽内，并能够被留置在预定位置。

优选地，所述液晶模组容纳槽1的槽壁上设有阻挡部，用于阻挡所述待检测液晶模组3沿铅垂方向向下运动，并使待检测液晶模组3留置在预定位置。

优选地，所述阻挡部为设置在液晶模组容纳槽1槽壁上的凸缘。

优选地，所述转接基板4与放置在托盘2上的待检测液晶模组3平行。

优选地，所述多个测试点5以阵列排布的方式设置在所述转接基本的预定位置。

优选地，该装置进一步包括：用于承载所述托盘2和探针组件6的支撑面板7。

优选地，所述探针组件6通过升降装置设置在所述支撑面板7上；

所述探针组件6通过升降装置实现沿铅垂方向的上下移动；向上移动时，所述探针组件6上探针同时压接在所述测试点5上；向下移动时，探针组件6从所述测试点5上离开，并到达限位处停止下移。

优选地，所述升降装置为升降螺杆、液压机构或连杆机构。

优选地，所述支撑面板7上设有控制单元，所述控制单元与所述升降装置连接；通过控制单元控制升降装置的升降运动。

本发明的有益效果如下：