[实用新型]半值层测量装置有效
| 申请号： | 201721717632.5 | 申请日： | 2017-12-12 |
| 公开（公告）号： | CN207600978U | 公开（公告）日： | 2018-07-10 |
| 发明（设计）人： | 吴金杰;杜海燕;刘莹;赵瑞 | 申请（专利权）人： | 中国计量科学研究院 |
| 主分类号： | G01N23/083 | 分类号： | G01N23/083;G01B15/02 |
| 代理公司： | 北京慧诚智道知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 11539 | 代理人： | 李楠 |
| 地址： | 100029 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 台体 吸收片 光阑 测量装置 插接孔 伸缩杆 座体 本实用新型 光阑组件 屏蔽体 滑块 手柄 测量过程 导轨运动 连接座体 散射辐射 手柄驱动 支架固定 上表面 外边缘 下表面 导轨 底面 减小 拉伸 支架 匹配 对准 测量 压缩 支撑 | ||
1.一种半值层测量装置，其特征在于，所述半值层测量装置包括：
支撑部，顶部设有导轨，所述导轨上具有滑块；
调节部，包括座体、伸缩杆、调节手柄和台体；所述座体的底面安装于所述滑块上，使得所述调节部沿所述导轨运动；所述伸缩杆连接所述座体的上表面和所述台体的下表面，所述调节手柄驱动所述伸缩杆压缩或拉伸，从而调节所述台体与所述座体之间距离；
光阑组件，置于所述台体上，包括屏蔽体和光阑；其中，所述屏蔽体上有插接孔，所述光阑的外边缘尺寸和所述插接孔相匹配，所述光阑插入所述插接孔中；
吸收片支架，置于所述台体上，通过所述吸收片支架固定吸收片，使得所述吸收片和所述光阑的中心相对准。
2.根据权利要求1所述的半值层测量装置，其特征在于，所述光阑组件由铅材料制成。
3.根据权利要求1所述的半值层测量装置，其特征在于，所述光阑的内径为30mm，厚度为30mm。
4.根据权利要求1所述的半值层测量装置，其特征在于，所述光阑的内径为50mm，厚度为30mm。
5.根据权利要求1所述的半值层测量装置，其特征在于，所述屏蔽体的厚度为25mm。
6.根据权利要求1所述的半值层测量装置，其特征在于，所述半值层测量装置还包括固定地脚，与所述支撑部螺纹连接，将所述支撑部固定在放置所述半值层测量装置的台面上。
7.根据权利要求6所述的半值层测量装置，其特征在于，通过调整所述固定地脚旋入所述支撑部的深度，改变所述支撑部与所述台面之间的相对高度。
8.根据权利要求1所述的半值层测量装置，其特征在于，所述吸收片支架的底部具有磁铁，将所述吸收片支架固定于所述台体上。
9.根据权利要求1所述的半值层测量装置，其特征在于，所述吸收片支架具有螺丝；所述吸收片通过所述螺丝固定在所述吸收片支架上。
10.根据权利要求1所述的半值层测量装置，其特征在于，所述导轨为两条或多条，两条或多条所述导轨相互平行。
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