[实用新型]基于光敏电阻实现晶体全反射角测量装置

说明书

基于光敏电阻实现晶体全反射角测量装置。本实用新型涉及一种基于光敏电阻实现晶体全反射角测量装置。所述的箱体的内部顶端设置滑轮，所述的滑轮上的滑索的一端缠绕在绕线器上，所述的绕线器设置在电动机的输出轴上，所述的滑索的另一端连接被测晶体，所述的被测晶体的底端连接滚轮，所述的滚轮在滑道上滚动。本实用新型用于基于光敏电阻实现晶体全反射角测量。

技术领域

本实用新型涉及一种基于光敏电阻实现晶体全反射角测量装置。

背景技术

全内反射临界角的测量都是通过光路观测，利用光学器件微观放大直接读取数值，并将读数直接转化为折射率值，其测量结果存在一定的主观误差，还需花费较大的人力物力，且仪器外型繁琐笨重。

发明内容

本实用新型的目的是提供一种基于光敏电阻实现晶体全反射角测量装置，使测量晶体的全反射角变得方便，减少人工测量的误差。

上述的目的通过以下的技术方案实现：

一种基于光敏电阻实现晶体全反射角测量装置，底座1上设置箱体2，所述的箱体2的右上角设置L形进光门3，所述的L形进光门3的上端通过转轴Ⅰ4连接箱体2，所述的L形进光门3的两个面分别设置光敏电阻Ⅰ5与光敏电阻Ⅱ6，所述的L形进光门3的外部上表面设置固定环Ⅰ7，所述的固定环Ⅰ7通过绳8连接固定环Ⅱ9，所述的固定环Ⅱ9设置在直线电机机身10上，所述的直线电机机身10在直线电机轨道11上运动，所述的光敏电阻Ⅰ5与光敏电阻Ⅱ6分别通过导线连接运动控制盒12；

所述的箱体2的内部顶端设置滑轮13，所述的滑轮13上的滑索16的一端缠绕在绕线器14上，所述的绕线器14设置在电动机15的输出轴上，所述的滑索16的另一端连接被测晶体17，所述的被测晶体17的底端连接滚轮18，所述的滚轮18在滑道19上滚动；

所述的滑轮13的右侧设置一组光敏电阻Ⅲ20到光敏电阻N，所述的光敏电阻Ⅲ20到光敏电阻N将接收到的反射光通过导线传输至处理盒21内，所述的处理盒21连通各个指示灯Ⅲ22，所述的指示灯Ⅲ22照射在圆盘23的分角面上，所述的圆盘23的分角面将接收的光信号发送至传输盒24。

所述的基于光敏电阻实现晶体全反射角测量装置，所述的运动控制盒12内装入信号放大模块Ⅰ，所述的信号放大模块Ⅰ同时接收光敏电阻Ⅰ5与光敏电阻Ⅱ6的光信号，所述的信号放大模块Ⅰ将光信号传输至单片机Ⅰ，所述的单片机Ⅰ将控制信号传输至电源开关Ⅰ，所述的电源开关Ⅰ使电源Ⅰ与直线电机机身10接通供电。

所述的基于光敏电阻实现晶体全反射角测量装置，所述的处理盒21接收光敏电阻Ⅲ20的光信号，所述的光敏电阻Ⅲ20将光信号传输至阻值测量模块与单片机Ⅲ，所述的阻值测量模块将信号传输至单片机Ⅲ，所述的单片机Ⅲ将控制信号传输至电源开关Ⅲ，所述的电源开关Ⅲ使电源Ⅲ与指示灯Ⅲ22接通供电。

所述的基于光敏电阻实现晶体全反射角测量装置，所述的传输盒24内设置信号放大模块Ⅱ，所述的信号放大模块Ⅱ将信号传输至无线发射器，所述的无线发射器将信号传输至无线接收器，所述的无线接收器将信号传输至上位机。

有益效果：

1.本实用新型利用光敏电阻灵敏度高（感光性高）、阻值变化范围大（暗电阻值和亮电阻值相差较大）、阻值随光照强度的增强而减小等特点来感光反射端和折射端两端的光强。随着入射角的增大（激光入射方向保持不变，利用转台转动被测材料全反射表面来改变激光入射角），反射端感光电阻阻值随反射光强的增大而减小，折射端感光电阻阻值随折射光强的减小而增大。当入射角达到临界角度且继续增大时，反射端和折射端的光敏电阻阻值分别达到最小值和最大值且保持不变。

2.本实用新型多次测量后即可得出全反射临界角，进而得出被测材料折射率。

3.本实用新型的L形进光门的开启也为自动受光控制。