[实用新型]一种防止形变的熔体结构有效

专利信息
申请号: 201721777124.6 申请日: 2017-12-19
公开(公告)号: CN207637736U 公开(公告)日: 2018-07-20
发明(设计)人: 石晓光;陈聪莉;赫俊伟;张耕;张岁媚 申请(专利权)人: 西安中熔电气股份有限公司
主分类号: H01H85/08 分类号: H01H85/08
代理公司: 苏州润桐嘉业知识产权代理有限公司 32261 代理人: 胡思棉
地址: 710068 陕西省西安市高新区锦业路69*** 国省代码: 陕西;61
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摘要:
搜索关键词: 熔体 形变 熔断器 熔体结构 长度方向间隔 长度方向设置 长条片状结构 熔断 本实用新型 波浪形结构 熔断器外壳 安全性能 不良现象 使用寿命 绝缘板 波峰 波谷 缠绕
【说明书】:

一种防止形变的熔体结构,所述熔体为长条片状结构,在所述熔体沿其长度方向间隔设置有多个易熔断区域;其特征在于所述熔体沿其长度方向设置有波浪形结构,相邻的波峰或波谷之间通过绝缘板连接。本实用新型熔体在其长度方向产生的形变很小,避免因在熔断器中使用时,因熔体形变导致的多根熔体缠绕或熔体靠近熔断器外壳的不良现象,提高了熔断器的使用寿命,提高了熔断器的安全性能。

技术领域

本实用新型涉及熔断器,尤其是指熔断器的熔体结构。

背景技术

熔断器为常用的电气元器件,在电路中起到保护作用。一般熔断器的结构,包括熔断器外壳,在熔断器内设置有熔体和填充有灭弧材料,熔体一般为条状结构,其两端固定在熔断器外壳端璧内一侧上。通常做法是将熔体先固定在熔断器外壳中,然后封装,封装好后,再在通过一端的充填口向熔断器外壳内充填灭弧材料。由于熔体为长条状结构,且两端分别固定在熔断器外壳端璧一侧。在一个熔断器中,一般设置有多根熔体。由于熔断器一般为长条片状结构,在其上间隔一定距离就设置有易熔断位置,在易熔断位置处的两端熔体边缘设置有向内凹的弧形槽,并在该处熔体上间隔开设有一排通孔,通过向内凹的弧形槽以及通孔,将易熔断位置处的熔体宽度降低,使其在过载电流通过时,可第一时间在此处熔断。通常,在一根熔体上设置有数个易熔断位置,为了增加熔断器的安全性能,一般熔体的长度比熔断器外壳长度长,如此,即可在熔体上多设置几个易熔断位置,提高熔断保险性。当熔体长于熔断器外壳时,一般采用将熔体沿其长度方向,间隔一定距离折弯使其形成波浪形结构。但是这种熔体结构在时间长的情况下,特别容易变形,导致多根熔体相互缠绕,不利于熔断,降低了熔断器的安全性能。

发明内容

本实用新型所要解决的技术问题是提供一种防止形变的熔体结构,具有良好防形变功能,使用该熔体结构的熔断器的安全性能好。

为解决上述技术问题,本实用新型提供的技术方案是一种防止形变的熔体结构,所述熔体为长条片状结构,在所述熔体沿其长度方向间隔设置有多个易熔断区域;其特征在于所述熔体沿其长度方向设置有波浪形结构,相邻的波峰或波谷之间通过绝缘板连接。

所述波浪形结构的波峰或波谷均为平面结构。

本实用新型的熔体结构,由于在熔体的相邻的波峰或波谷均通过绝缘板连接,使熔体在长度方向无法形变或产生很小的形变,避免因熔体因形变变长,导致熔体间相互缠绕或靠近熔断器外壳内壁的不良现象,提高了熔断器的安全性能。

附图说明

图1,本实用新型熔体结构示意图。

图2,本实用新型熔体使用状态结构示意图。

具体实施方式

针对上述技术方案,现举一较佳实施例并结合图示进行具体说明。参看图1至图2,本实用新型的熔体结构如下:

熔体1,其为长条状片式结构,材质为导电的金属材质。在熔体的两长侧边上间隔一定距离开设有对称的向内凹陷的弧形边2,在每组对称的弧形边所在的熔体上开设有透孔3。向内凹陷的弧形槽及开设的透孔所在的熔体区域形成熔体的易熔断区域。每组弧形边及透孔结构可以在电路过载时,作为熔体的薄弱位置,可以首先熔断。为了提高熔体熔断的可靠性,多设置几个易熔断区域,因此熔体的长度远大于熔断器外壳的长度。在熔体两端设置有折边线,熔体两端沿着折边线整齐的折弯。然后通过焊接或其他固定方式固定在盖板4或外帽上并与触刀5连接。由于熔体长度远大于熔断器长度,因此,熔体设置为波浪形结构,在本实施例中设置有矩形波浪结构,其波峰和波谷均为平面结构。在除却连接端以外的每个矩形波浪的波峰和波谷上均设置一个有易熔断区域。相邻的波峰及波谷间通过绝缘板6连接。绝缘板6 其材质为绝缘材质,可以是云母片,也可以是其他非金属绝缘材质,可以通过胶粘或其他固定方式使绝缘板固定在熔体上。参看图2,熔体的两端固定在熔断器的两端的盖板上,当熔断器中有多条熔体时,由于熔体的波峰及波谷均有绝缘板连接,因此,在每根熔体长度方向产生的形变则很小,不论熔断器使用多长时间,熔断器内的熔体均不会因为形变而相互缠绕,或靠近熔断器外壳内侧,避免了因熔体缠绕导致的熔断难或因熔体形变靠近熔断器外壳导致的熔断器外壳炸裂的不良现象。

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