[实用新型]一种五芯FA转LC接口的光器件测试设备有效
申请号: | 201721787846.X | 申请日: | 2017-12-20 |
公开(公告)号: | CN207798371U | 公开(公告)日: | 2018-08-31 |
发明(设计)人: | 王红阳 | 申请(专利权)人: | 上海鸿珊光电子技术有限公司 |
主分类号: | G01M11/00 | 分类号: | G01M11/00 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 200240 上海市闵行*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 阵列光纤 安装槽 输出端 光纤安放槽 本实用新型 光器件测试 公头接口 母头接口 输入端 影响测试结果 玻璃材质 尺寸设计 器件损伤 直接对接 加工件 晃动 雕刻 损伤 光纤 扭曲 保证 测试 外部 | ||
1.一种五芯FA转LC接口的光器件测试设备,包括主体(1),其特征在于,所述主体(1)的一侧设置有FA阵列光纤输出端安装槽(2),所述主体(1)的另一侧设置有LC公头接口(3),所述主体(1)的底部设置有LC母头接口(4),所述LC公头接口(3)和LC母头接口(4)共同构成FA阵列光纤输入端,所述FA阵列光纤输出端安装槽(2)与FA阵列光纤输入端之间设置有光纤安放槽(5),所述FA阵列光纤输出端安装槽(2)通过光纤安放槽(5)与LC接口相连。
2.根据权利要求1所述的一种五芯FA转LC接口的光器件测试设备,其特征在于,所述光纤安放槽(5)内置有石英光纤,且石英光纤的直径为0.9um。
3.根据权利要求1所述的一种五芯FA转LC接口的光器件测试设备,其特征在于,所述LC公头接口(3)的数量为4个,且LC公头接口(3)竖直纵向均匀排列。
4.根据权利要求1所述的一种五芯FA转LC接口的光器件测试设备,其特征在于,所述LC母头接口(4)的数量为1个,且LC母头接口(4)的直径大于LC公头接口(3)的直径。
5.根据权利要求1所述的一种五芯FA转LC接口的光器件测试设备,其特征在于,所述主体(1)的形状为长方体。
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