[实用新型]一种元器件测试装置中的探针组有效

专利信息
申请号: 201721808427.X 申请日: 2017-12-22
公开(公告)号: CN207752049U 公开(公告)日: 2018-08-21
发明(设计)人: 韩越;周洲 申请(专利权)人: 广州宜测电子科技有限公司
主分类号: G01R1/067 分类号: G01R1/067
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 510000 广东省广*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 螺杆 上端 探针座 支撑架 下端 底座 元器件测试装置 本实用新型 元器件插槽 升降板 探针槽 探针组 旋转板 元器件 底座两端 电性连接 顶端安装 高效测量 螺栓连接 限位架 工作台 位架
【权利要求书】:

1.一种元器件测试装置中的探针组,包括底座(1),其特征在于,所述底座(1)上端两侧安装有支撑架(14),支撑架(14)顶端安装有顶板(11),顶板(11)中部安装有第一螺杆(13),第一螺杆(13)上端安装有第一旋转板(12),所述第一螺杆(13)下端安装有升降板(10),升降板(10)下端通过螺栓(9)连接有上探针座(16),所述底座(1)上端中部安装有工作台(4),所述底座(1)两端上部安装有限位架(7),限位架(7)中部安装有第二螺杆(8),第二螺杆(8)外侧安装有第二旋转板(17),第二螺杆(8)内侧安装有下探针座(18),所述支撑架(14)下端外侧安装有探针槽(5),探针槽(5)电性连接有元器件插槽(2)。

2.根据权利要求1所述的一种元器件测试装置中的探针组,其特征在于,所述第一旋转板(12)和第二旋转板(17)上端均安装有旋转手柄。

3.根据权利要求1所述的一种元器件测试装置中的探针组,其特征在于,所述升降板(10)两端中部通过导向套(15)连接有支撑架(14)。

4.根据权利要求1所述的一种元器件测试装置中的探针组,其特征在于,所述探针槽(5)中设有与下探针座(18)相互配合的探针孔(51)。

5.根据权利要求1所述的一种元器件测试装置中的探针组,其特征在于,所述上探针座(16)下端均匀安装有上探针(3),下探针座(18)内侧均匀安装有下探针(6)。

6.根据权利要求1所述的一种元器件测试装置中的探针组,其特征在于,所述工作台(4)上放置有待测量的电子元器件。

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