[实用新型]一种超大型高精密面板测量仪器有效

专利信息
申请号: 201721827309.3 申请日: 2017-12-25
公开(公告)号: CN207851457U 公开(公告)日: 2018-09-11
发明(设计)人: 马观岚 申请(专利权)人: 江苏才道精密仪器有限公司
主分类号: G02F1/13 分类号: G02F1/13
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 215300 江苏*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 工作台 金相显微镜 光学玻璃 本实用新型 测量仪器 传动架 高精密 光源 龙门移动式 龙门结构 使用测量 竖直设置 双边支撑 水平镜头 伺服电机 相机镜头 固定板 重量轻 横梁 导轨 对丝 上横 正对 底座 磨损
【说明书】:

本实用新型涉及一种超大型高精密面板测量仪器,具有工作台;其特征在于:所述工作台设置在底座上,所述工作台具有光学玻璃,所述光学玻璃下面安装有点光源,所述工作台的垂直方向上横置有龙门结构的X轴传动架,所述工作台的径向设有Y轴传动架,金相显微镜通过固定板竖直设置在X轴传动架上,所述X轴传动架和Y轴传动架的端部分别连接各自的伺服电机,所述金相显微镜的相机镜头正对有点光源,本实用新型的技术方案采用龙门移动式结构,双边支撑,横梁重量轻、采用金相显微镜盒水平镜头后误差小,同时减少对丝杆、导轨的磨损,长时间使用测量精度稳定。

技术领域

发明涉及一种精密仪器,尤其是涉及一种超大型高精密面板测量仪器。

背景技术

现有的液晶大型面板导电离子的观察和测量精度数据都是通过小型测量仪器进行,同时自动化程度低,其精度和结构不能满足大型面板的测量需求。

发明内容

本发明的目的是克服现有技术存在的缺陷,提供一种结构移动方便,能够测量大型面板,且测量精度稳定的一种超大型高精密面板测量仪器。

实现本发明目的的技术方案是:一种超大型高精密面板测量仪器,具有工作台;其特征在于:所述工作台设置在底座上,所述工作台具有光学玻璃,所述光学玻璃下面安装有点光源,所述工作台的垂直方向上横置有龙门结构的X轴传动架,所述工作台的径向设有Y轴传动架,金相显微镜通过固定板竖直设置在X轴传动架上,所述X轴传动架和Y轴传动架的端部分别连接各自的伺服电机,所述金相显微镜的相机镜头正对有点光源。

更进一步的优化方案是所述的一种超大型高精密面板测量仪器,在所述X轴传动架上滑动设置有Z轴传动架,所述金相显微镜在所述Z轴传动架做上下移动,所述Z轴传动架的顶端电连接Z轴电机。

更进一步的优化方案是所述的一种超大型高精密面板测量仪器,所述X轴传动架包括X轴同步带、X轴限位块和下灯线轮,所述X轴同步带套接在下灯线轮上并带动Z轴传动架在工作台的X轴方向上移动。

更进一步的优化方案是所述的一种超大型高精密面板测量仪器,所述X轴传动架上还设有油墨标记,所述油墨标记靠近金相显微镜。

更进一步的优化方案是所述的一种超大型高精密面板测量仪器,所述X轴传动架的两边设有横梁立体支架,所述横梁立体支架的底部设置在Y轴传动架上并在所述工作台的Y轴上滑动,所述横梁立体支架上设有限位胶固定块。

更进一步的优化方案是所述的一种超大型高精密面板测量仪器,所述Z轴传动架上设有水平镜头,所述水平镜头用于观测两侧截面。

采用上述技术方案后,本发明具有以下积极的效果:

(1)本发明的技术方案采用龙门移动式结构,双边支撑,横梁重量轻、采用金相显微镜盒水平镜头后误差小,同时减少对丝杆、导轨的磨损,长时间使用测量精度稳定。

附图说明

为了使本发明的内容更容易被清楚地理解,下面根据具体实施例并结合附图,对本发明作进一步详细的说明,其中 :

图1为本实用新型的结构示意图。

具体实施方式

(实施例1)

见图1所示,本发明具有一种超大型高精密面板测量仪器,具有工作台1;所述工作台1设置在底座2上,所述工作台1具有光学玻璃3,所述光学玻璃3下面安装有点光源4,所述工作台1的垂直方向上横置有龙门结构的X轴传动架5,所述工作台1的径向设有Y轴传动架6,金相显微镜7通过固定板竖直设置在X轴传动架5上,所述X轴传动架5和Y轴传动架6的端部分别连接各自的伺服电机,所述金相显微镜7的相机镜头10正对有点光源4。在所述X轴传动架5上滑动设置有Z轴传动架8,所述金相显微镜7在所述Z轴传动架8做上下移动,所述Z轴传动架8的顶端电连接Z轴电机9。

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