[实用新型]一种半导体检验自动标记装置

说明书

本实用新型公开了一种半导体检验自动标记装置，包括载物底座，所述载物底座的顶部设有所述滑块，所述滑块的顶部设有所述固定盒，所述滑块的一侧设有所述支架，所述支架上设有所述电动伸缩杆，所述电动伸缩杆的底部设有所述标记笔，所述载物底座的内部设有所述电动导轨，将所需要检验的半导体放置在滑块上的固定盒上，在显微镜下检验出不合格的半导体以后，控制电动导轨开关，通过伺服电机带动螺纹转轴转动，使滑块上的半导体移动到标记笔的正下方，然后通过操控电动伸缩机开关，使标记笔竖直向下移动，标记所需要标记的半导体，方便快捷，降低漏标的概率，提高工作效率本实用新型结构科学合理，使用安全方便。

技术领域

本实用新型属于半导体检验技术领域，具体涉及一种半导体检验自动标记装置。

背景技术

半导体，指常温下导电性能介于导体与绝缘体之间的材料，半导体在收音机、电视机以及测温上有着广泛的应用，如二极管就是采用半导体制作的器件，半导体是指一种导电性可受控制，范围可从绝缘体至导体之间的材料，无论从科技或是经济发展的角度来看，半导体的重要性都是非常巨大的，今日大部分的电子产品，如计算机、移动电话或是数字录音机当中的核心单元都和半导体有着极为密切的关连，常见的半导体材料有硅，硅是各种半导体材料中，在商业应用上最具有影响力的一种，晶圆硅半导体集成电路制作所用的硅晶片，由于其形状为圆形，故称为晶圆，在硅晶片上可加工制作成各种电路元件结构，在生产过程中，检验晶圆体的连接是否正常，基本上都是手动检验并且标记，容易漏标。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种半导体检验自动标记装置，以解决上述背景技术中提出的基本上都是手动检验并且标记容易漏标问题。

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种半导体检验自动标记装置，包括载物底座、固定盒、电动伸缩杆开关、显微镜底座、电动导轨开关、滑块、显微镜、观察孔、支架、电动伸缩杆、标记笔、电动导轨、导轨、螺纹转轴、伺服电机、电机座和固定座，所述载物底座的顶部设有所述滑块，所述滑块的顶部设有所述固定盒，所述滑块的一侧设有所述支架，所述支架上设有所述电动伸缩杆，所述电动伸缩杆的底部设有所述标记笔，所述载物底座的内部设有所述电动导轨，所述电动导轨由所述导轨、所述螺纹转轴、所述伺服电机、所述电机座和所述固定座组成，所述载物底座的一侧设有所述显微镜底座，所述显微镜底座的一侧设有所述电动伸缩杆开关，所述电动伸缩杆开关的一侧设有所述电动导轨开关，所述显微镜底座的顶部设有所述显微镜，所述观察孔安装在所述显微镜上，所述伺服电机与所述电动导轨开关电性连接，所述电动伸缩杆开关与所述电动伸缩杆电性连接。

优选的，所述滑块为长方体状。

优选的，所述伺服电机与电机座通过轴承连接。

优选的，所述导轨有两个，且两个所述导轨均等距离分布在固定座的两侧。

优选的，所述滑块通过导轨和螺纹转轴固定在电动导轨上。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：本实用新型安装好过后，将所需要检验的半导体放置在滑块上的固定盒上，在显微镜下检验出不合格的半导体以后，控制电动导轨开关，通过伺服电机带动螺纹转轴转动，使滑块上的半导体移动到标记笔的正下方，然后通过操控电动伸缩机开关，使标记笔竖直向下移动，标记所需要标记的半导体，方便快捷，降低漏标的概率，提高工作效率本实用新型结构科学合理，使用安全方便。

附图说明

图1为本实用新型的正视结构示意图；

图2为本实用新型的俯视结构示意图；

图3为本实用新型的电动导轨结构示意图；

图中：1-载物底座、2-固定盒、3-电动伸缩杆开关、4-显微镜底座、5-电动导轨开关、6-滑块、7-显微镜、8-观察孔、9-支架、10-电动伸缩杆、11-标记笔、12-电动导轨、13-导轨、14-螺纹转轴、15-伺服电机、16-电机座、17-固定座。