[实用新型]晶圆传送探测传感装置有效
申请号: | 201721845058.1 | 申请日: | 2017-12-26 |
公开(公告)号: | CN207623549U | 公开(公告)日: | 2018-07-17 |
发明(设计)人: | 张德培 | 申请(专利权)人: | 上海陛通半导体能源科技股份有限公司 |
主分类号: | G01V8/10 | 分类号: | G01V8/10 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 201203 上海市浦东新区中国(上海)自*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 固定圆盘 传感器支架 传感器 探测传感装置 透光 晶圆 折弯 传送 孔洞 本实用新型 固定传感器 特氟龙材料 呈圆环状 晶圆位置 信号连接 槽口 折面 探测 组装 配合 | ||
晶圆传送探测传感装置,包括固定圆盘、透光圆盘、传感器支架和传感器。所述的传感器与传感器支架相连,传感器支架与固定圆盘配合,所述的透光圆盘与固定圆盘相连。所述的传感器支架,一端有折弯,折弯面上有槽口,用于固定传感器信号连接接头;传感器另一端有两个折面,折面上有孔洞,用于与固定圆盘固定。所述的固定圆盘,采用特氟龙材料,呈圆环状。本实用新型的优点是:结构简单,易于组装,晶圆位置探测准确。
技术领域
本实用新型涉及半导体晶圆制造领域,尤其涉及晶圆传送探测传感装置。
背景技术
半导体集成电路制造领域是国家近年来大力发展的行业,是国家未来经济支柱产业。半导体生产设备一般拥有一个传输腔和多个反应腔,晶圆生产经过多个步骤,需要在反应腔之间进行多次传送,如何探测判断晶圆在传送过程中是否到达指定位置尤为重要。本实用新型将设计一款晶圆探测传感装置,检测晶圆是否到达指定传送位置。
发明内容
为实现上述目的,本实用新型所提供的技术方案是:晶圆传送探测传感装置,包括固定圆盘、透光圆盘、传感器支架和传感器。所述的传感器与传感器支架相连,传感器支架与固定圆盘配合,所述的透光圆盘与固定圆盘相连;
所述的传感器,与传感器支架相连,光发射端朝向透光圆盘;
所述的传感器支架,一端有折弯,折弯面上有槽口,用于固定传感器信号连接线接头;传感器另一端有两个折面,折面上有孔洞,用于与固定圆盘固定;
所述的固定圆盘,采用特氟龙材料,呈圆环状,内径小于透光圆盘直径;固定圆盘上有多个螺纹孔,分别与传感器支架和半导体腔体固定;
所述的透光圆盘,材料采用石英玻璃,硬度高,且材料致密性好,可保持较高真空度;透光圆盘外形呈圆形,直径大于固定圆盘内径;
使用时,先将传感器通过传感器支架中间两个孔洞固定,传感器信号线接头固定在传感器支架折弯面槽口;然后,通过螺钉将传感器与固定圆盘锁紧;最后,将透光圆盘放置在固定圆盘下方。将组装好的探测传感器装置固定在腔体上,进行晶圆探测工作;
本实用新型的优点是:结构简单,易于组装,晶圆位置探测准确。
附图说明
图1为晶圆传送探测传感装置整体装配示意图;
图2为晶圆传送探测传感装置固定圆盘示意图;
图3为晶圆传送探测传感装置传感器支架示意图;
1.固定圆盘;2.透光圆盘;3.传感器支架;4.传感器。
具体实施方式
下面结合附图和实施例对本实用新型做进一步说明,本实用新型较佳实施例为:参见附图1、附图2和附图3。本实用新型所提供的技术方案是:晶圆传送探测传感装置,包括固定圆盘1、透光圆盘2、传感器支架3和传感器4。所述的传感器4与传感器支架3相连,传感器支架3与固定圆盘1配合,所述的透光圆盘2与固定圆盘1相连。使用时,先将传感器4通过传感器支架3中间两个孔洞固定,传感器4信号线接头固定在传感器支架3折弯面槽口;然后,通过螺钉将传感器4与固定圆盘1锁紧;最后,将透光圆盘2放置在固定圆盘1下方。将组装好的探测传感器装置固定在腔体上,进行晶圆探测工作;
以上所述实例只为本实用新型之较佳实例,并非以此限制本实用新型的实施范围。故凡依本实用新型的形状、原理所做的变化,均应涵盖在本实用新型保护范围内。
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