[实用新型]一种自动调节原子荧光光谱仪原子化器高度的装置有效

专利信息
申请号: 201721845689.3 申请日: 2017-12-26
公开(公告)号: CN207571036U 公开(公告)日: 2018-07-03
发明(设计)人: 周小靖;陈嗣俊;袁荣单;郑金星 申请(专利权)人: 浙江福立分析仪器股份有限公司
主分类号: G01N21/71 分类号: G01N21/71;G01N21/01
代理公司: 杭州华知专利事务所(普通合伙) 33235 代理人: 张德宝
地址: 317500 浙江省*** 国省代码: 浙江;33
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 高度自动调节装置 定位挡片 定位装置 自动感应 控制模块 原子化器 原子荧光光谱仪 本实用新型 细牙螺纹 轴套侧壁 适配 支轴 原子荧光光谱 丝杆底端 位置控制 原子荧光 自动优化 电连接 固定座 底端 丝杆 轴套 存储 穿过 保存 检测 优化 配合
【说明书】:

实用新型属于原子荧光光谱技术领域,具体指一种自动调节原子荧光光谱仪原子化器高度的装置,包括轴套、支轴、细牙螺纹丝杆、固定座、高度自动调节装置、定位挡片、自动感应定位装置以及控制模块,高度自动调节装置连接细牙螺纹丝杆底端,定位挡片连接在支轴底端,自动感应定位装置连接在轴套侧壁,轴套侧壁设有第一纵向适配缺口,定位挡片穿过第一纵向适配缺口与自动感应定位装置相配合,自动感应定位装置用于检测定位挡片的位置,控制模块电连接高度自动调节装置,用于根据定位挡片的位置控制高度自动调节装置、计算并存储高度自动调节装置的数据。本实用新型通过控制模块控制,自动优化原子荧光强度的原子化器高度,并可保存优化后的数据。

技术领域

本实用新型属于原子荧光光谱技术领域,具体指一种自动调节原子荧光光谱仪原子化器高度的装置。

背景技术

原子荧光光谱分析是原子光谱法中的一个重要分支,经过五十多年的发展,已经成为一种优良的痕量分析技术。就原子荧光技术本身来讲,它同时具有原子吸收和原子发射光谱两种技术的优势,并克服了两者的不足。

时至今日,原子荧光光谱仪主要对Hg、As、Se、Sb、Sn等12种元素进行痕量检测。应用领域十分广泛,涉及到卫生防疫、食品检验、环境样品检验、药品检验、化妆品毒性检验、地质普查等需要对上述元素进行痕量检测的领域。原子荧光是原子蒸气受具有特征波长的光源照射后,其中一些自由原子被激发跃迁到较高能态,然后去活化回到某一较低能态(常常是基态)而发射出特征光谱的物理现象。各种元素都有其特征原子荧光光谱,根据原子荧光强度的高低可测得试样中待测元素含量。原子荧光光谱仪的基本结构包括激发光源、光学系统、原子化系统、检测和数据处理系统。

元素不同,则原子荧光最佳强度的火焰激发位置也不同,因此,为了达到最佳的分析效果,需要根据分析元素的不同调节原子化器和光源之间的最佳相对位置。而市场上原子荧光光谱仪,其原子化器高度调节,有的位置调节过程不够平稳,有的调节精度不够高,有的调节操作十分不便,有的实现方法非常复杂。

实用新型内容

本实用新型的目的是提供一种自动调节原子荧光光谱仪原子化器高度的装置,使用简单的方法自动优化以找到最佳荧光强度的原子化器高度,结构简化,操作过程更加方便。

本实用新型的目标可通过以下技术方案实现:一种自动调节原子荧光光谱仪原子化器高度的装置,包括轴套、支轴、细牙螺纹丝杆以及固定座,还包括:高度自动调节装置、定位挡片、自动感应定位装置以及控制模块,所述高度自动调节装置连接细牙螺纹丝杆底端,所述定位挡片连接在支轴底端,所述自动感应定位装置连接在轴套侧壁,所述轴套侧壁设有第一纵向适配缺口,所述定位挡片穿过第一纵向适配缺口与自动感应定位装置相配合,所述自动感应定位装置用于检测定位挡片的位置,所述控制模块电连接高度自动调节装置,用于根据定位挡片的位置控制高度自动调节装置、计算并存储高度自动调节装置的数据。

优选的,所述高度自动调节装置与细牙螺纹丝杆底端之间还连接有高度手动微调旋钮。

优选的,所述轴套相对第一纵向适配缺口的另一侧设有第二纵向适配缺口,所述支轴侧壁连接有限位装置,所述限位装置在第二纵向适配缺口内上下运动。

优选的,所述轴套和细牙螺纹丝杆之间设有轴承,所述轴承设于轴套底部。

优选的,所述细牙螺纹丝杆底端通过联轴器固定连接高度自动调节装置。

优选的,所述固定座两侧分别设有支撑柱,所述支撑柱分别通过轴套底端的缺口与轴套相连接。

本实用新型的有益效果是:本实用新型通过控制模块控制,自动优化原子荧光强度的原子化器高度,并可保存优化后的数据,方便再次调取使用,不仅缩短了仪器优化的时间,同时还可提高多次分析的重现性,便于批量样品和同一样品重复分析与比较;通过手动微调旋钮,可进行原子化器高度的进一步优化,使设计更加合理化,使用过程更加方便;结构简单且精准平稳。

附图说明

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于浙江福立分析仪器股份有限公司,未经浙江福立分析仪器股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201721845689.3/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top