[实用新型]一种可测量VLC装备抗杂光性能的检测装置有效

专利信息
申请号: 201721847422.8 申请日: 2017-12-26
公开(公告)号: CN207570763U 公开(公告)日: 2018-07-03
发明(设计)人: 刘桂雄;吴嘉健;张沛强;郭雪梅;曾昕;龙阳;陈长缨;王佳胜 申请(专利权)人: 华南理工大学;广州市光机电技术研究院;广州市仪器仪表学会;广州广电计量检测股份有限公司;暨南大学;广东省标准化研究院
主分类号: G01M11/02 分类号: G01M11/02
代理公司: 北京天奇智新知识产权代理有限公司 11340 代理人: 王泽云
地址: 510640 广东*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 杂光 半透半反镜 滑动平台 运动控制模块 本实用新型 光源底座 光源模块 检测装置 双轴联动 可测量 导轨 光源 性能分析模块 机械移动 装置夹具 装置结构 固定件 衰减器 检测 替代
【权利要求书】:

1.一种可测量VLC装备抗杂光性能的检测装置,其特征在于,所述装置包括:杂光光源模块、抗杂光性能分析模块(209)、双轴联动运动控制模块、主半透半反镜(208)、副半透半反镜(207)、待测VLC装置夹具、衰减器(210)及箱体;

所述杂光光源模块包括杂光光源(211)与杂光光源底座(212);所述杂光光源底座(212)安装在箱体底部,用于放置杂光光源;

所述双轴联动运动控制模块包括X轴步进电机(201)、X轴丝杆导轨(202)、X轴滑动平台(203)、Y轴步进电机(204)、Y轴丝杆导轨(205)与Y轴滑动平台(206);

所述主半透半反镜(208)通过固定件固定在箱体的底部;

所述副半透半反镜(207)安装在X轴滑动平台(203)上。

2.如权利要求1所述的可测量VLC装备抗杂光性能的检测装置,其特征在于,所述抗杂光性能分析模块(209)包括照度计,该照度计通过固定件安装在X轴滑动平台上,用以测量透过半透半反镜的光束照度。

3.如权利要求1所述的可测量VLC装备抗杂光性能的检测装置,其特征在于,

所述Y轴步进电机(204)与Y轴丝杆导轨(205)通过固定件安装在X轴滑动平台(203)上,且在Y轴步进电机(204)与Y轴丝杆导轨(205)之间设置有减速器,并通过该减速器连接;

所述Y轴滑动平台(206)与Y轴丝杆导轨(205)相连,并通过设置的丝杆螺母调节VLC装备接收器与副半透半反镜距离。

4.如权利要求1所述的可测量VLC装备抗杂光性能的检测装置,其特征在于,

所述X轴步进电机(201)与X轴丝杆导轨(202)安装在箱体的底部,且在X轴步进电机(201)与X轴丝杆导轨(202)之间设置有减速器,并通过该减速器连接;

所述X轴滑动平台(203)与X轴丝杆导轨(202)相连,并通过设置的丝杆螺母调整半透半反镜与待测VLC装备光源距离。

5.如权利要求1所述的可测量VLC装备抗杂光性能的检测装置,其特征在于,

所述待测VLC装置夹具包括VLC装备光源支座(103);

所述箱体包括外挡光板(101)与内挡光板(102);

所述衰减器(210)安装在内挡光板(102)上,并通过固定件固定,用以对待测VLC装备光源进行照度衰减。

6.如权利要求5所述的可测量VLC装备抗杂光性能的检测装置,其特征在于,所述VLC装备光源支座(103)安装于箱体的底部,并通过固定件固定,用于放置VLC装备光源。

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