[实用新型]一种元器件测试装置

说明书

本实用新型实施例公开了一种元器件测试装置，包括与待测试元器件可形成电连接的测试端，所述元器件测试装置包括：基板、测试点调节组件和夹持组件，其中：所述测试点调节组件设置于所述基板上；所述夹持组件设置于所述测试点调节组件上，且由所述测试点调节机构驱动相对于所述基板的表面可移动。本实用新型所提供的一种元器件测试装置，利用三维可调节的测试点调节组件来调整用于对待测对象进行测试的测试端位置，且同时使得测试端对测试点具有预定的夹持力来实现测试夹紧过程，实现简单且可靠。

技术领域

本实用新型涉及一种测试装置，特别地涉及一种元器件测试装置，属于电路测试技术领域。

背景技术

纹波是叠加在直流信号上的交流干扰信号，是电源测试中的一个很重要的标准，因此，对电路板上的电源纹波进行测试也是电路板性能测试中的关键步骤。

现有技术中，在对电路板上的电源纹波进行测试时，为了能够对用电器件附近的真实用电情况进行充分测试，通常都会选取在用电器件的电源附近的电容作为测试对象。但是，如果待测试对象为比较小体积的器件，比如04020201封装的电容，通过一般的探头进行探测时测试点接触操作往往比较困难，而且人工操作容易出现失误。另一方面，当前使用的测试探头中，信号探测点是一个固定的金属探针，而接地点为一个弹簧结构的柔性探针，使用时一般将固定的金属探针接触在电容一端，而另一端借用弹簧的张力实现各种尺寸电容的匹配，该结构虽然可以适用于多种尺寸，甚至小尺寸电容的测试，但是柔性探针不容易操作，对于测试人员要求较高，否则不能保证整个测试过程中的可靠性。

实用新型内容

本实用新型提供一种元器件测试装置，解决现有技术中无法对小体积元器件进行可靠测试的技术问题。

本实用新型实施例提供一种元器件测试装置，包括与待测试元器件可形成电连接的测试端，所述元器件测试装置还包括：基板、测试点调节组件和夹持组件，其中：

所述测试点调节组件设置于所述基板上；

所述夹持组件设置于所述测试点调节组件上，且由所述测试点调节机构驱动相对于所述基板的表面可移动。

可选地，所述测试点调节组件包括：平动方向相互垂直的X方向平动机构、Y方向平动机构和Z方向平动机构，其中：

所述X方向平动机构设置于所述基板上；

所述Z方向平动机构设置于所述X方向平动机构之上，由所述X方向平动机构驱动其在X方向移动；

所述Y方向平动机构设置于Z方向平动机构之上，由所述Z方向平动机构驱动其在Z方向移动；

所述夹持组件设置于所述Y方向平动机构之上，由所述Y方向平动机构驱动其在Y方向移动。

可选地，所述夹持组件包括：设置于所述测试点调节组件上的支撑板，所述支撑板上设置有可相向运动且均向所述基板表面延伸设定距离的两个测试夹持板，所述测试夹持板的相对表面分别设置有测试端。

可选地，所述测试端所在表面设置有压力传感器。

可选地，所述两个测试夹持板分别为固定夹持板和移动夹持板，所述固定夹持板固定于所述支撑板，所述移动夹持板可以向所述固定夹持板运动。

可选地，所述测试夹持为T型结构。

可选地，所述测试夹持板的底面设置有内凹槽，所述的内凹槽的底面设置有初始长度大于内凹槽深度但压缩长度可小于内凹槽深度的弹簧，所述的弹簧自由端固定有可嵌入所述内凹槽的底挡板。

进一步可选地，所述内凹槽的底面沿中心轴线设置有两个弹簧。

进一步可选地，所述内凹槽底面设置有测距传感器，在所述测距传感器的测距媒介通行线路对应的所述底挡板位置设置有通孔。