[实用新型]一种激光投影散斑测量系统有效
申请号: | 201721853752.8 | 申请日: | 2017-12-27 |
公开(公告)号: | CN207703459U | 公开(公告)日: | 2018-08-07 |
发明(设计)人: | 潘建根;黄艳;蔡欢庆 | 申请(专利权)人: | 杭州远方光电信息股份有限公司 |
主分类号: | G01M11/02 | 分类号: | G01M11/02 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 310053 浙江省*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 成像测量装置 光源模块 散斑测量 非相干光源 激光光源 激光投影 测量 本实用新型 探测器支撑 准确度 光斑 测试功能 传统设备 创新性地 光斑图像 光源支撑 机构设置 角度对准 现场测量 支撑机构 光投射 投影屏 校准 成像 激光 探测 测试 保证 | ||
本实用新型公开了一种激光投影散斑测量系统,包括内部设有光源模块和成像测量装置的箱体,且所述光源模块和成像测量装置分别通过可对光源模块和成像测量装置的位置角度进行调节的光源支撑机构和探测器支撑机构设置在箱体内;光源模块由激光光源和非相干光源组成。在测试中,所述光源模块或者被测激光发出的光投射至投影屏上形成光斑,进一步光斑图像被成像至成像测量装置的探测面上实现测量;与传统设备相比,本装置创新性地在箱体内集成了激光光源、非相干光源和成像测量装置,并可以通过对应的支撑机构进行位置角度对准,实现了校准和测试功能于一体,不仅保证了散斑测量的准确度,而且使测量更加便捷、适用于实验室以及现场测量。
【技术领域】
本发明涉及激光投影显示测量的技术领域,具体涉及一种激光投影散斑测量系统。
【背景技术】
随着显示技术的迅速发展,激光显示凭借诸多优势成为新一代的显示技术,其突出优势包括色域覆盖率高、高亮度、高对比度等,并成为最有前景的新一代显示技术;激光显示的优势主要来源于激光光源的采用,换句话说,激光光源具有很好的相干性、单色性、色纯度高、色域大;然而,相对于激光波长,投影光学器件或者投影屏表面粗糙,激光经过粗糙表面产生干涉,进而在投影画面中出现“散斑”现象,散斑的存在不仅会严重影响照明光斑的均匀性和图像质量,而且还会引起视觉疲劳。因此,业内专家也做了大量关于消除或降低散斑的研究,也发表了一系列的研究成果。在测量方面,激光散斑的准确测量对于激光投影显示散斑程度的评价至观重要,同时也是验证消散斑技术效果的重要手段;目前通常采用散斑对比度来对激光散斑程度进行评价。
对于激光散斑的检测,业内相关企业和专家也提出了一些解决方案;如公开号为CN201520785210的专利公开了一种基于人眼特征的激光图像散斑的测量系统,主要包括激光、成像镜头、感应元件,并通过采用与人眼通孔、焦距匹配的成像镜头和匹配视网膜的光强响应曲线的感光元件模拟了人眼对于散斑效应的感知,进而实现散斑进行测量;再者,日本公开号为JP 2014-32371A的专利技术公开了一种激光散斑发生器和散斑评估系统,主要包括激光光源、漫射板,并通过驱动漫射板移动并改变激光光束相位,产生不同类型的散斑,并通过散斑测量仪器测量散斑对比度,其中散斑测量仪器包括针孔光阑、成像感应元件、成像镜头。
从上述可知,现有的对于激光投影散斑的检测技术和测量装置中均只可以实现散斑对比度的测量,不能实现设备散斑对比度的现场校准功能;如果要对传统激光散斑测试技术进行散斑对比度校准,则需要提供合适的场所、光源夹持设备、校准光源、测量设备安装装置等进行校准,不仅过程繁琐、设备及场地成本相对较高,往往还会由于环境中其他光源或者来自与墙面等的反射光进入测量设备中导致产生较大的杂散光,影响结果的准确度;加之激光散斑测试技术在现场测量中的应用非常广泛,如电影院、会议室等场所,在测量现场实现设备的快速校准对于保证测量的准确性尤显重要。
【发明内容】
针对现有技术的不足,本发明所要解决的技术问题是提供一种激光投影散斑测量系统,通过集成化设计,不仅可以实现激光投影仪以及待测屏幕的散斑特性,而且可随时对测量装置的散斑特性值(如散斑对比度)进行校准,高度保证和提高散斑对比度的测量准确度,实现被测对象的客观科学评价。本装置可实现散斑对比度的校准以及激光投影仪、投影屏的散斑对比度测量。
本发明通过以下技术方案实现:一种激光投影散斑测量系统,其特征在于,包括:内部设有光源模块和成像测量装置的箱体;其中所述的光源模块由激光光源和非相干光源组成,且所述的光源模块通过可对激光光源和/或非相干光源的位置角度进行调节的光源支撑机构与箱体连接;所述的成像测量装置包括光学成像单元和二维阵列探测器;在箱体内或箱体外设置投影屏,所述光源模块或被测激光发出的光投射在投影屏上形成光斑图像,所述的成像测量装置对准光斑,并通过光学成像单元将光斑成像到二维阵列探测器上。
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