[实用新型]用于核级金属石墨密封垫片性能试验系统的位移传感器有效

专利信息
申请号: 201721882465.X 申请日: 2017-12-28
公开(公告)号: CN207741700U 公开(公告)日: 2018-08-17
发明(设计)人: 马晓伟;曹建建 申请(专利权)人: 浙江华安激光科技有限公司
主分类号: G01B11/02 分类号: G01B11/02
代理公司: 上海泰能知识产权代理事务所 31233 代理人: 宋缨;钱文斌
地址: 315399 浙江省宁波市慈*** 国省代码: 浙江;33
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摘要:
搜索关键词: 发射光纤 接收光纤 探针 性能试验系统 本实用新型 位移传感器 金属石墨 密封垫片 放置座 核级 光纤 接触式检测 强度反射 一端设置 双光纤 传感 对准
【权利要求书】:

1.一种用于核级金属石墨密封垫片性能试验系统的位移传感器,包括发射光纤、接收光纤、探针和外壳,所述外壳的一端设置有探针,其特征在于,所述发射光纤和接收光纤固定在光纤放置座上,所述光纤放置座安装在外壳内使得发射光纤和接收光纤的端面对准所述探针的平面。

2.根据权利要求1所述的用于核级金属石墨密封垫片性能试验系统的位移传感器,其特征在于,所述探针和外壳的另一端之间设置有微力弹簧。

3.根据权利要求1所述的用于核级金属石墨密封垫片性能试验系统的位移传感器,其特征在于,所述发射光纤和接收光纤通过AB胶固定在光纤放置座上。

4.根据权利要求1所述的用于核级金属石墨密封垫片性能试验系统的位移传感器,其特征在于,所述外壳通过AB胶进行密封。

5.根据权利要求1所述的用于核级金属石墨密封垫片性能试验系统的位移传感器,其特征在于,所述光纤放置座正对探针的平面上有两个凸起。

6.根据权利要求1所述的用于核级金属石墨密封垫片性能试验系统的位移传感器,其特征在于,所述发射光纤和接收光纤的端面平齐。

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