[实用新型]一种集成电路测试装置有效
申请号: | 201721888062.6 | 申请日: | 2017-12-29 |
公开(公告)号: | CN207601256U | 公开(公告)日: | 2018-07-10 |
发明(设计)人: | 贾奎;梁庆云 | 申请(专利权)人: | 深圳市创智芯科电子科技有限公司 |
主分类号: | G01R31/28 | 分类号: | G01R31/28;G01R1/04 |
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地址: | 518000 广东省深圳市南*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 测试器本体 测试 集成电路测试装置 火线接入 接入口 零线 芯板 集成电路 电流测试模块 电压测试模块 控制电源开关 本实用新型 底部中心处 数据显示屏 便于携带 测试电压 电阻测试 散热条孔 设备成本 设备设计 设备整体 外部 电阻 灵活 | ||
本实用新型公开了一种集成电路测试装置,包括测试器本体,所述测试器本体的底部左侧设有火线接入口,所述测试器本体的底部右侧设有零线接入口,所述测试器本体的左侧多个散热条孔,所述测试器本体的底部中心处设有控制电源开关,所述测试器本体的外部设有数据显示屏,所述测试器本体的内部设有测试芯板。该种设备设计了测试器本体,通过利用测试器本体的外部火线接入口和零线接入口进行接入需要测试的集成电路,并通过利用测试芯板内部的电压测试模块、电流测试模块、电阻测试模块进行测试电压、电流和电阻,该种设备整体小巧灵活,能对集成电路部分进行测试,设备成本较低,便于携带,整体结构简单,易于实现。
技术领域
本实用新型涉及集成电路设备技术领域,具体为一种集成电路测试装置。
背景技术
市场上集成电路竞争非常激烈,大部份国内外芯片制造厂都具备各种集成电路的制造能力,从目前的趋势来看,测试是影响价格的关键因素之一。在兼顾测试可靠性的前提下,如何提高测试效率并降低测试成本,是一个非常重要的问题,市面上较多测试装置,器件较大,不便于移动,并且设备成本较高,使用较为不便,针对以上这些问题,那么如何设计出一种便携式且小型成本较低的集成电路测试装置,成为我们需要解决的问题。
实用新型内容
本实用新型的目的在于提供一种集成电路测试装置,解决了背景技术中所提出的问题。
为解决上述问题,本实用新型提供如下技术方案:一种集成电路测试装置,包括测试器本体,所述测试器本体的底部左侧设有火线接入口,所述测试器本体的底部右侧设有零线接入口,所述测试器本体的左侧多个散热条孔,所述测试器本体的底部中心处设有控制电源开关,所述测试器本体的外部设有数据显示屏,所述测试器本体的内部设有测试芯板。
作为本实用新型的进一步优选方式,所述测试器本体的底部设有两个警示灯,左侧警示灯设为红色,右侧警示灯设为绿色。
作为本实用新型的进一步优选方式,所述测试芯板包括电压测试模块、电流测试模块、电阻测试模块、正极接入模块和负极接入模块,所述电压测试模块与所述电流测试模块、电阻测试模块、正极接入模块和负极接入模块均电路连通。
作为本实用新型的进一步优选方式,所述正极接入模块与所述火线接入口相对应,所述负极接入模块与所述零线接入口相对应。
作为本实用新型的进一步优选方式,所述测试器本体的长度设为3.2-7.8cm,所述测试器本体的宽度设为9.6-14.2cm,所述测试器本体的厚度设为2.2-4.6cm。
与现有技术相比,本实用新型的有益效果如下:
1.本实用新型通过设计了一个小型的测试器本体,通过利用测试器本体的外部火线接入口和零线接入口进行接入需要测试的集成电路,并通过利用测试芯板内部的电压测试模块、电流测试模块、电阻测试模块进行测试电压、电流和电阻,该种设备整体小巧灵活,能对集成电路部分进行测试,设备成本较低,便于携带,整体结构简单,具备较强的推广价值。
附图说明
图1为一种集成电路测试装置的结构示意图;
图2为一种集成电路测试装置的测试芯板原理框架示意图。
图中:1-测试器本体,2-火线接入口,3-零线接入口,4-散热条孔,5-控制电源开关,6-数据显示屏,7-测试芯板,8-警示灯,9-电压测试模块,10-电流测试模块,11-电阻测试模块,12-正极接入模块,13-负极接入模块。
具体实施方式
下面将结合本实用新型实-施例中的附图,对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本实用新型保护的范围。
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