[实用新型]一种基于电磁波的刀具的监测系统

说明书

本实用新型涉及一种基于电磁波的刀具的监测系统。该监测系统包括太赫兹监测装置、传送带和控制器。太赫兹监测装置包括样品台、电磁发生仪、电磁接收仪和辅助处理设备；电磁发生仪用于向刀片发射探测波；电磁接收仪用于接收透过刀片的衰减波；辅助处理设备用于比较衰减波和探测波，得到刀片的吸收光谱，并根据吸收光谱计算刀片的厚度；传送带用于将刀片在刀片加工装置和样品台之间传送；控制器用于控制传送带的运作。上述基于电磁波的刀具的监测系统，根据刀片对于太赫兹频段的电磁波的吸收时间和刀片本身的折射率即可计算出刀片的厚度。实现了刀片厚度无接触式的测量，测量简单，测量精度较高，因此测量效果较好。

技术领域

本实用新型涉及刀具质量检测领域，特别涉及一种基于电磁波的刀具的监测系统。

背景技术

现代的刀具生产工艺中，大多使用磨床进行加工，其精度和效率都远远大于传统的手工打造技术。此处以陶瓷刀具为例，陶瓷刀片的厚度是决定刀具质量的最重要因素。为了保持刀片的厚度符合设计的要求，经常需要熟练的工人将刀片从磨床上取下，使用卡尺等测量工具逐一进行校对，并由此来判定磨床的设置是否精确，机器的运作是否正常。但是，传统的测量刀片厚度的方法大多数是接触式的，操作复杂，且测得的刀片的厚度精度较差，测量效果不好。

实用新型内容

基于此，有必要针对传统的测量刀片厚度的方法操作复杂且测量效果不好的问题，提供一种基于电磁波的刀具的监测系统。

一种基于电磁波的刀具的监测系统，所述刀具的刀片的分子是非极性分子，所述监测系统用于监测刀片加工装置加工的刀片的厚度，所述监测系统包括：

太赫兹监测装置，包括样品台、电磁发生仪、电磁接收仪和辅助处理设备；所述样品台用于支撑所述刀片；所述电磁发生仪用于向所述刀片发射探测波；所述电磁接收仪用于接收透过所述刀片的电磁波，该电磁波为衰减波；所述辅助处理设备用于比较所述衰减波和所述探测波，得到所述刀片的吸收光谱，并根据吸收光谱计算所述刀片的厚度；其中，所述探测波为太赫兹频段的电磁波；

传送带，所述传送带设置于所述刀片加工装置和所述太赫兹监测装置之间，所述传送带用于将所述刀片在所述刀片加工装置和所述样品台之间传送；

控制器，与所述传送带连接，所述控制器用于控制所述传送带的运作。

上述基于电磁波的刀具的监测系统，刀片加工装置将刀片放在传送带上。控制器控制传送带的传送工作。传送带将刀片传送至太赫兹检测装置的样品台上。然后，太赫兹监测装置利用太赫兹频段的电磁波测量刀片的厚度。根据吸收光谱获取太赫兹频段的电磁波穿过刀片的时间，即衰减时间。再根据刀片对于太赫兹频段的电磁波的衰减时间和刀片本身的折射率即可计算出刀片的厚度。实现了刀片厚度无接触式的测量，测量简单，并且利用吸收光谱科学计算刀片的厚度，测量精度较高，因此测量效果较好。为刀片厚度测量提供了一种新的手段，更好的优化了工业制造。

在其中一个实施例中，所述太赫兹监测装置还包括支架和位置调节组件，所述样品台位于所述支架内部；所述位置调节组件与所述样品台连接，所述位置调节组件用于调节所述样品台相对于所述支架的位置，以监测所述刀片不同位置处的厚度。

在其中一个实施例中，所述太赫兹监测装置还包括存储器，所述存储器与所述辅助处理设备连接，所述存储器用于存储所述辅助处理设备计算得出的所述刀片的厚度值。

在其中一个实施例中，所述太赫兹监测装置还包括分束器，所述分束器接收所述电磁发生仪产生的太赫兹频段的初始波，并将所述初始波分为能量相等的两束波，其中一束作为所述探测波，其中一束作为参照波；

所述电磁接收仪接收所述参照波和所述衰减波，并将所述参照波和所述衰减波发送给所述辅助处理设备；

所述辅助处理设备比较所述衰减波和所述参照波，获取所述刀片的吸收光谱。