[发明专利]测试方法、测试服务器及系统

说明书

本发明实施例提供一种测试方法、测试服务器及系统，先通过确定当前测试失败事件是否能够匹配到预先存储历史测试失败事件，在匹配到预先存储的历史测试失败事件时，就利用前期为解决历史测试失败事件而采用的解决方案对当前测试项重新测试，这样能够极大地减少或者避免了人工分析，进而能够实现提高测试效率的目的。此外，在确定不存在与当前测试失败事件匹配的历史测试失败事件，还能够获取人工分析的解决方案，以进一步地确保测试通过率。

技术领域

本发明属于测试技术领域，尤其涉及一种测试方法、测试服务器及系统。

背景技术

电子产品如指纹类装置在批量生产前,需要进行功能指标的量产测试，通过测试来筛选产品，严格保证产品质量，确保达到市场量产要求。

目前,量产测试通常采用如下的步骤进行检测：生产线平台在纳入测试工具后进行相关测试项检测，待全部测试项通过后，可认作该功能测试通过。

然而,在现有的量产测试过程中，在功能测试中一旦出现任何一测试项出现问题，测试工具都会退出测试，暂视作不良品处理，等待技术人员的专业技术分析并进行测试技术方案的修改,但是，这种分析和技术方案的修改依赖于人工分析的进度，进而导致测试效率低下的问题。

发明内容

本发明实施例的目的在于提供一种测试方法、测试服务器及系统，用于解决现有技术中上述技术问题。

本发明实施例第一方面提供一种测试方法，包括：将根据当前测试方案对当前测试项测试失败时生成的当前测试失败事件与预先存储的历史测试失败事件进行匹配；

在存在与当前测试失败事件匹配的历史测试失败事件时，确定应对所述历史测试失败事件对应的解决方案，以根据所述解决方案对所述当前测试项重新进行测试。

可选地，所述根据当前测试方案对测试项测试失败时生成的当前测试失败事件与预先存储的历史测试失败事件进行匹配，包括：根据所述当前测试失败事件对应的当前测试log信息与预先存储的所述历史测试失败事件对应的历史测试log信息进行匹配。

可选地，所述当前测试log信息包括对所述当前测试项执行当前测试方案的当前测试输入数据以及当前测试输出数据，所述历史测试log信息包括对所述历史测试项执行历史测试方案的历史测试输入数据以及历史测试输出数据；

其中，所述根据所述当前测试失败事件对应的当前测试log信息与预先存储的所述历史测试失败事件对应的历史测试log信息进行匹配，包括：

根据所述当前测试失败事件的当前测试输入数据以及当前测试输出数据与预先存储的历史测试输入数据以及历史测试输出数据分别进行匹配。

可选地，还包括：根据设定的数据通讯协议对当前测试log信息进行分析以从中提取关键特征数据；

其中，根据所述当前测试失败事件的当前测试输入数据以及当前测试输出数据与预先存储的历史测试输入数据以及历史测试输出数据分别进行匹配包括：

根据所述当前测试失败事件的当前测试关键过程数据与预先存储的历史测试失败事件的历史测试关键过程数据分别进行匹配。

可选地，根据设定的数据通讯协议对当前log信息进行分析以从中提取关键特征数据包括：

根据设定的数据通讯协议对所述当前log信息进行拆分和提取以获取其中的标记部分和数据部分；其中，所述标记部分用于标识不同的所述当前测试项，所述数据部分用于记载当前测试输入数据、当前测试输出数据以及当前测试关键过程数据。

可选地，所述确定应对所述历史测试失败事件的解决方案，以根据所述解决方案对所述当前测试项重新进行测试包括：