[发明专利]黑色粒子以及黑色粒子的制造方法有效
| 申请号： | 201780002945.9 | 申请日： | 2017-02-17 |
| 公开（公告）号： | CN107949606B | 公开（公告）日： | 2021-10-12 |
| 发明（设计）人： | 孙仁德;野里省二;中寿贺章;伊原博隆;高藤诚;桑原穣;村上晶子 | 申请（专利权）人： | 积水化学工业株式会社;国立大学法人熊本大学 |
| 主分类号： | C09C1/44 | 分类号： | C09C1/44;C01B32/05 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人： | 蒋亭 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 黑色 粒子 以及 制造 方法 | ||
1.一种黑色粒子，其特征在于，其是含有无定形碳的黑色粒子，其中，
所述无定形碳来源于萘并噁嗪树脂所含有的碳，
所述黑色粒子的比重为1.8g/cm3以下，
ζ电位为-70～+80mV，
在波长400～800nm下测定的总光线反射率的平均为5％以下，
利用拉曼光谱测定时的G带与D带的峰强度比为1.2以上，
所述黑色粒子的平均粒径为0.005μm～50μm，平均球形度为90％以上，变异系数即CV值为20％以下。
2.根据权利要求1所述的黑色粒子，其特征在于，体积电阻率为1.0×107Q·cm以上。
3.根据权利要求1或2所述的黑色粒子，其特征在于，在波长400～800nm下测定的总光线反射率的平均为4.5％以下。
4.根据权利要求1或2所述的黑色粒子，其特征在于，利用飞行时间型二次离子质谱分析法即TOF-SIMS来测定覆盖层时，检测到来源于苯环的质谱和来源于萘环的质谱中的至少一者。
5.根据权利要求1或2所述的黑色粒子，其特征在于，利用X射线衍射法来测定覆盖层时，在2θ为26.4°的位置检测不到峰。
6.一种黑色粒子的制造方法，其特征在于，其是制造权利要求1、2、3、4或5所述的黑色粒子的方法，其具备：
使含有三嗪、二羟基萘和溶剂的混合溶液发生反应的工序。
7.一种黑色粒子的制造方法，其特征在于，其是制造权利要求1、2、3、4或5所述的黑色粒子的方法，其具备：
使含有甲醛、脂肪族胺、二羟基萘和溶剂的混合溶液发生反应的工序。
8.根据权利要求6或7所述的黑色粒子的制造方法，其特征在于，溶剂仅由单一成分构成，溶解度参数即SP值为9.0以上，沸点为150℃以下。
9.根据权利要求6或7所述的黑色粒子的制造方法，其特征在于，溶剂是由两种以上的溶剂构成的混合溶剂，所述混合溶剂含有沸点为150℃以上的溶剂，且所述沸点为150℃以上的溶剂的含量为60体积％以下。
10.一种树脂组合物，其包含权利要求1～5中任一项所述的黑色粒子。
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