[发明专利]检查设备

说明书

一种用于检查颗粒材料流的检查设备，其包括：背景反射器(105)，邻近所述背景反射器(105)在使用中落下颗粒材料(F)流；以及照明单元(107)，用于照射所述背景反射器(105)上的细长视场(VF)，所述视场(VF)具有第一宽度(w₁)；其中所述照明单元(107)包括固定的非扫描光源(115)，并且所述光源(115)由一个或多个光元件(120)形成，所述一个或多个光元件(120)限定第二宽度(w₂)，所述第二宽度(w₂)小于所述视场(VF)的所述第一宽度(w₁)。

技术领域

本发明涉及一种用于检查颗粒材料流的检查设备，所述颗粒材料是至少部分半透明或至少部分透明的例如薄片且具体地说塑料薄片中的一种或两种。透明或半透明的薄片通常会透射光，但会根据其颜色和/或化学成分吸收某些波长。

背景技术

如图1所示，现有设备包括：具有大致均匀强度的反射白板5，在其上提供薄片F；处于间隔开的位置处的多个光源7，其照射宽度与视场VF基本相似或更大的区；以及相机9，其对在视场VF上延伸的线进行成像。如果薄片全部沿着与其接触的白板5行进，即接触背景板，则这种现有技术的设备以令人满意的方式工作。在实践中，这种薄片倾向于在距离板一定距离(例如5-10mm)处行进，这导致形成阴影(‘成阴影’)。

图2表示视场VF的中心区处的代表性薄片F₁和外侧区处的代表性薄片F₂的照射，以及由相机9获取的薄片F₁、F₂的对应图像I₁、I₂。

如将看到的，在这种现有设备中，薄片F₁、F₂的相当大的外边缘区被沿着光源-白板-薄片-相机的路径行进的光照射，意味着在光沿着光源-薄片-白板-薄片-相机的路径行进的情况下薄片F₁、F₂的辨别大小d₁、d₂明显小于薄片F₁、F₂的实际大小d_1a、d_2a。这种明显的边缘照射的结果是较小薄片F的分辨率差。

另外，所获取的图像I₁、I₂包含明显的阴影边界S，这会使单个薄片F的识别变得困难，并且可能导致将邻近的可接受的薄片F错误识别为有缺陷的薄片，同时还降低有缺陷的薄片F中的信号电平。

在其它现有设备中，例如在WO-A-2013/115650中公开的现有设备中，在提供薄片所沿着的路径上扫描聚焦光束，并且通过传感器检测反射光。

这种设备还因限于光束的扫描速率而具有降低的分辨率。

发明内容

本发明人已经认识到这种现有设备的分辨率是有限的，因为与其中光沿着光源-薄片-白板-薄片-相机的双吸收光路行进的薄片F的中心区相比，薄片F的边缘会经历其中光沿着光源-白板-薄片-相机的单吸收光路行进的不同的光路，并且薄片F外边缘处的吸收减少50％；这意味着从所获取的图像中可辨别并且对应于双重吸收的薄片F的表观大小明显小于薄片F的实际大小。

借助提供一种通过薄片F促进两次光透射的布置，一旦在照射反射板5时且一旦在通过薄片F观察反射板5时，本发明有利地提供了在薄片F可透射的波长处光级很少减少或没有减少，但是在薄片F吸收光的那些波长处，吸收的光量加倍，因此对比度更大。

本发明的目的是提供一种用于检查颗粒材料流的改进的检查设备，所述颗粒材料是至少部分半透明或至少部分透明的例如薄片且具体地说塑料薄片中的一种，且具体地，提供一种利用固定或非扫描光源的检查设备，所述光源从靠近相机的区域发射光，并且其中所述光源的宽度基本上窄于视场的宽度。在此上下文中的宽度是指基本正交于颗粒材料在背景板上的流动方向的背景板上的方向。